데이터 시트
SN74HCT595-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1:
- –40°C to +125°C, TA
- Device HBM ESD Classification Level 2
- Device CDM ESD Classifcation Level C6
- Device temperature grade 1:
- LSTTL input logic compatible
- VIL(max) = 0.8 V, VIH(min) = 2 V
- CMOS input logic compatible
- II ≤ 1 µA at VOL, VOH
- 4.5 V to 5.5 V operation
- Supports fanout up to 10 LSTTL loads
- Shift register has direct clear
The SN74HCT595-Q1 device contains an 8-bit, serial-in, parallel-out shift register that feeds an 8-bit D-type storage register. The storage register has parallel 3-state outputs. Separate clocks are provided for both the shift and storage register. The shift register has a direct overriding clear (SRCLR) input, serial (SER) input, and a serial output (QH) for cascading. When the output-enable (OE) input is high, the storage register outputs are in a high-impedance state. Internal register data and serial output (QH) are not impacted by the operation of the OE input.
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기술 자료
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평가 보드
14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치