SN74LVC1G57
- Supports 5-V VCC Operation
- Inputs Accept Voltages to 5.5 V
- Supports Down Translation to VCC
- Max tpd of 6.3 ns at 3.3 V
- Schmitt-Triggered Inputs
- Low Power Consumption, 10-µA Maximum ICC
- ±24-mA Output Drive at 3.3 V
- Ioff Supports Live Insertion, Partial-Power-Down Mode, and Back-Drive Protection
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
- Available in the Texas Instruments NanoFree™ Package
The SN74LVC1G57 device features configurable multiple functions. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions AND, OR, NAND, NOR, XNOR, inverter, and buffer. All inputs can be connected to VCC or GND.
This device functions as an independent gate, but because of Schmitt action, it may have different input threshold levels for positive-going (VT+) and negative-going (VT–) signals.
This configurable multiple-function gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
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비교 대상 장치와 동일한 기능을 지원하는 핀 대 핀
기술 자료
설계 및 개발
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5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈
5-8-NL-LOGIC-EVM — 5-8핀 DPW, DQE, DRY, DSF, DTM, DTQ 및 DTT 패키지를 지원하는 일반 로직 및 변환 EVM
DTT, DRY, DPW, DTM, DQE, DQM, DSF 또는 DTQ 패키지가 있는 로직 또는 변환 디바이스를 지원하도록 설계된 일반 EVM. 보드 설계는 유연한 평가가 가능합니다.
TIDM-MINI-DC — 소형 AMI 네트워크의 인프라 비용 절감을 위한 데이터 콘센트레이터 레퍼런스 디자인
TIDA-00826 — 50Ohm, 2GHz 오실로스코프 프론트 엔드 레퍼런스 디자인
TIDA-00225 — BeagleBone Black용 데이터 집신기 케이프
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| DSBGA (YZP) | 6 | Ultra Librarian |
| SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |
| SOT-5X3 (DRL) | 6 | Ultra Librarian |
| SOT-SC70 (DCK) | 6 | Ultra Librarian |
| USON (DRY) | 6 | Ultra Librarian |
| X2SON (DSF) | 6 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치