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SN54SC245-SEP

現行

採用航太級強化型塑膠且具有 3 態輸出的 1.2-V 至 5.5-V 八路匯流排收發器

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產品規格表

SN54SC245-SEP

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產品詳細資料

Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
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類型 標題 日期
* Data sheet SN54SC245-SEP Radiation-Tolerant, 1.2-V to 5.5-V, Octal Bus TransceiversWith 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 2023年 6月 28日
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 2023年 10月 17日
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Reliability Report PDF | HTML 2023年 8月 23日
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 2023年 8月 16日

設計與開發

如需其他條款或必要資源，請按一下下方的任何標題以檢視詳細頁面 (如有)。

開發板

14-24-LOGIC-EVM — 適用於 14 針腳至 24 針腳 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封裝的邏輯產品通用評估模組

14-24-LOGIC-EVM 評估模組 (EVM) 設計用於支援任何 14 針腳至 24 針腳 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封裝的任何邏輯裝置。

使用指南: PDF | HTML
TI.com 無法提供
封裝 引腳 下載
TSSOP (PW) 20 檢視選項
適用 TI 的評估品項標準條款與條件。

訂購與品質

內含資訊：
  • RoHS
  • REACH
  • 產品標記
  • 鉛塗層/球物料
  • MSL 等級/回焊峰值
  • MTBF/FIT 估算值
  • 材料內容
  • 資格摘要
  • 進行中可靠性監測
內含資訊：
  • 晶圓廠位置
  • 組裝地點

支援與培訓

內含 TI 工程師技術支援的 TI E2E™ 論壇

以英文檢視所有論壇主題

內容係由 TI 和社群貢獻者依「現狀」提供，且不構成 TI 規範。檢視使用條款。

若有關於品質、封裝或訂購 TI 產品的問題，請參閱 TI 支援。​​​​​​​​​​​​​​

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