JAJSOP6C May 2022 – February 2025 TPS65219
PRODUCTION DATA
| POS | パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 標準値 | 最大値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 電気的特性 | |||||||
| 9.1.1 | VOL | Low レベル出力電圧(オープン ドレイン) | VIO = 3.6V、IOL = 2mA、GPO1、GPO2、GPIO、nRSTOUT、nINT | 0.40 | V | ||
| 9.1.2 | VIL | Low レベル入力電圧 | EN/PB、MODE/STBY、MODE/RESET および VSEL_SD/VSEL_DDR、GPIO | 0.4 | V | ||
| 9.1.3 | VIH | High レベル入力電圧 | EN/PB、MODE/STBY、MODE/RESET および VSEL_SD/VSEL_DDR、GPIO | 1.26 | V | ||
| 9.1.4 | VVSENSE | VSENSEコンパレータ スレッショルド(EN/PB/VSENSE) | 1.08 | 1.20 | 1.32 | V | |
| 9.1.5 | VVSENSE_HYS | VSENSE コンパレータ ヒステリシス(EN/PB/VSENSE) | 8 | 30 | 55 | mV | |
| 9.1.6 | ILKG | 入力リーク電流 (GPIO、EN/PB/VSENSE、MODE/STBY、MODE/RESET、VSEL_SD/VSEL/DDR) | VIN = 3.3V | 1.0 | μA | ||
| 9.1.7 | CIN | 内部入力ピン容量 (GPIO、EN/PB/VSENSE、MODE/STBY、MODE/RESET、VSEL_SD/VSEL/DDR) | 10 | pF | |||
| 9.1.8 | IPD | プルダウン電流、VSYS が印加されてから 100us 後に利用可能 | GPO1、GPO2、GPIO、MODE/STBY、MODE/RESET、VSEL_SD/VSEL_DDR、nINT、nRSTOUT のピンで | 18 | 25 | 35 | nA |
| 9.1.9 | ILKG_VSYS_ONLY | VSYS が存在するが、デジタル電源 VDD1P8 が存在しない場合のピン リーケージ | SDA のみ | 1 | μA | ||
| 9.1.10 | VPIN_VSYS_ONLY | VSYS が存在するが、デジタル電源 VDD1P8 が存在しない場合のピン電圧 | GPO1、GPO2、GPIO、nRSTOUT、nINT、IOL = 2mA | 0.4 | V | ||
| タイミング要件 | |||||||
| 9.2.1a | tFALL | 出力バッファ立ち下がり時間(90% ~ 10%) | GPO1、GPO2、GPIO、nRSTOUT、nINT、COUT = 10pF | 50 | ns | ||
| 9.2.1b | tRISE | GPIO 出力バッファ立ち上がり時間(10% ~ 90%) | GPIO、マルチ PMIC 構成で適用可能 | 5 | μs | ||
| 9.2.1.1 | tDLY_FALL | 出力バッファ立ち下がり時間遅延 (入力が 50% を超えてから出力が 50% を超えるまで) |
COUT = 10pF | 50 | ns | ||
| 9.2.2.1 | tDLY_RISE | オープン ドレイン出力バッファ立ち上がり時間遅延 (デジタル入力から出力が 50% を超えるまで) |
COUT = 10pF、RPU= 1k(外部プルアップ)、VIO = 1.8V | 300 | ns | ||
| 9.2.2.3 | FLT_HIGHDuration | ピンを内部で high にできるかどうかを確認するために、デジタルがテストに割り当てた時間 | COUT = 10pF | 15 | μs | ||
| 9.2.2.4 | FLT_LOWDuration | ピンを内部で low にできるかどうかを確認するために、デジタルがテストに割り当てた時間 | COUT = 10pF | 15 | μs | ||
| 9.2.2a | tPB_ON_SLOW | EN/PB/VSENSE、待機時間 PB、オン要求、低速 | PB、立ち下がりエッジ | 540 | 600 | 660 | ms |
| 9.2.2b | tPB_ON_FAST | EN/PB/VSENSE、待機時間 PB、オン要求、高速 | PB、立ち下がりエッジ | 180 | 200 | 220 | ms |
| 9.2.3 | tPB_OFF | EN/PB/VSENSE、待機時間 PB、オフ要求 | PB、立ち下がりエッジ | 7.2 | 8.0 | 8.8 | s |
| 9.2.4 | tPB_RISE_DEGL | EN/PB/VSENSE、グリッチ除去時間 PB、立ち上がりエッジ | PB、立ち上がりエッジ、長押しオフ要求が成功した後に適用可能 | 115 | 200 | 275 | ms |
| 9.2.5 | tPB_INT_DEGL | EN/PB/VSENSE、グリッチ除去時間 PB、立ち上がりまたは立ち下がりエッジ | PB、立ち上がりまたは立ち下がりエッジ | 59 | 100 | 137 | ms |
| 9.2.6 | tDEGL_EN_Rise_Slow | EN/PB/VSENSE、グリッチ除去時間 EN 低速、立ち上がり | EN、立ち上がりエッジ | 45 | 50 | 55 | ms |
| 9.2.7 | tDEGL_EN_Rise_Fast | EN/PB/VSENSE、グリッチ除去時間 EN 高速、立ち上がり | EN、立ち上がりエッジ | 60 | 120 | 150 | μs |
| 9.2.8 | tDEGL_EN_Fall | EN/PB/VSENSE、グリッチ除去時間 EN、立ち下がり | EN、立ち下がりエッジ | 50 | 70 | 93 | μs |
| 9.2.9 | tDEGL_VSENSE_Rise | VSENSE 立ち上がり:VSYSPOR_Rising および VSENSE 電圧によってのみゲート | VSENSE、立ち上がりエッジ | 該当なし | |||
| 9.2.10 | tDEGL_VSENSE_Fall | EN/PB/VSENSE、グリッチ除去時間 VSENSE、立ち下がり、高速/低速設定に非依存 | VSENSE、立ち下がりエッジ | 50 | 70 | 93 | μs |
| 9.2.11 | tDEGL_EN/VSENSE_I2C | I2C によるシャットダウン後の EN/VSENSE 立ち下がりエッジのグリッチ除去時間 | I2C による前のシャットダウン要求の後の EN/VSENSE 立ち下がりエッジ(9.2.8 未満) | 12.5 | 25 | 37.5 | μs |
| 9.2.12 | tDEGL_RESET | MODE/RESET、グリッチ除去時間 RESET | RESET、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジ | 90 | 120 | 150 | μs |
| 9.2.13 | tDEGL_MFP | グリッチ除去時間 MODE/STBY、MODE (not/RESET)、VSEL_SD/VSEL_DDR | 立ち上がりエッジと立ち下がりエッジ | 90 | 120 | 150 | μs |
| 9.2.14 | tDEGL_GPIO | グリッチ除去時間 GPIO | 立ち上がりエッジと立ち下がりエッジ | 6.6 | 15.6 | 18 | μs |
| 9.2.15 | tREACTION_ON | オン要求伝搬遅延(デグリッチ後) | 発振器の起動、サンプリング遅延、および応答(デジタル グリッチ除去を除く)が含まれます | 75 | 103 | μs | |
| 9.2.16 | tREACTION_OFF | オフ要求伝搬遅延(デグリッチ後) | サンプリング遅延、応答(グリッチ除去を除く)が含まれます | 39 | 56 | 73.5 | μs |