JAJU988 May   2025

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   リソース
  4.   特長
  5.   アプリケーション
  6.   6
  7. 1システムの説明
    1. 1.1 用語
    2. 1.2 主なシステム仕様
  8. 2システム概要
    1. 2.1 ブロック図
    2. 2.2 設計上の考慮事項
      1. 2.2.1 入力コンデンサの選択
      2. 2.2.2 DC 側
      3. 2.2.3 AC 側
    3. 2.3 主な使用製品
      1. 2.3.1 TMDSCNCD28P55X - controlCARD 評価基板
        1. 2.3.1.1 ハードウェアの特長
        2. 2.3.1.2 ソフトウェアの特長
      2. 2.3.2 LMG2100R026 - 100V、53A GaNハーフ ブリッジ電力ステージ
      3. 2.3.3 LMG365xR035 - ドライバと保護機能を内蔵した 650V、35mΩ GaN FET
      4. 2.3.4 TMCS1123 - 強化絶縁を備えた高精度 250kHz ホール エフェクト電流センサ
      5. 2.3.5 TMCS1133 - 強化絶縁を備えた高精度 1Mhz ホール エフェクト電流センサ
      6. 2.3.6 INA185 - 26V、350kHz、双方向、超高精度の電流検出アンプ
      7. 2.3.7 LM5164 – 100V入力、超低消費電力の 1A 同期降圧 DC-DC コンバータ IQ
      8. 2.3.8 ISO6762 - 汎用、信頼性の高い EMC 特性、6 チャネル強化絶縁型デジタル アイソレータ
  9. 3システム設計理論
    1. 3.1 ソーラー インバータの絶縁
    2. 3.2 トポロジの概要
    3. 3.3 制御理論
      1. 3.3.1 単一および拡張位相シフト変調手法
      2. 3.3.2 ゼロ電圧スイッチングと循環電流
      3. 3.3.3 最適化された制御方式
      4. 3.3.4 デッド タイム補償
      5. 3.3.5 周波数変調
      6. 3.3.6 コントローラのブロック図
    4. 3.4 MPPT および入力電圧リップル
  10. 4ハードウェア、テスト要件、およびテスト結果
    1. 4.1 ハードウェア要件
    2. 4.2 テスト設定
      1. 4.2.1 基板チェック
      2. 4.2.2 DC - DC テスト
      3. 4.2.3 DC - AC テスト
    3. 4.3 テスト結果
  11. 5設計とドキュメントのサポート
    1. 5.1 デザイン ファイル
      1. 5.1.1 回路図
      2. 5.1.2 BOM
    2. 5.2 ツールとソフトウェア
    3. 5.3 ドキュメントのサポート
    4. 5.4 サポート・リソース
    5. 5.5 商標
  12. 6著者について

4.2.1 基板チェック

図 4-1 に、ボードの接続を示します。

TIDA-010954 低電圧テスト用の基板の接続図 4-1 低電圧テスト用の基板の接続

テスト シーケンスは次のとおりです。

  1. 差動プローブのマイナス端子を TP13 に接続し、プラス端子を TP10 に接続します。2 つ目の差動プローブを TP27 および TP12 にそれぞれ接続します。トランス T1 の 2 次側線の周囲にロゴスキー コイルを接続します。
  2. CYCLO_LAB の定義 (cinv_settings.h 内) を 1 に設定します
  3. ファームウェアをビルドしてコントローラにダウンロードし、実行します
  4. <DPSDK>\solutions\tida_010954\source\debug\lab1.txt ファイルを Expressions ビューにインポートします
  5. 次の変数cyclo_iref_g = 0.0、cyclo_d1 = 1、cyclo_d1= 0.47、cyclo_d2 = 0.0 を設定します
  6. cyclo_run = 1 に設定しcyclo_started が 1 になることを確認します
  7. オシロスコープの波形を観察します。1 次側は、正および負のパルス幅が狭いクリーンな 3 レベルの波形を用意する必要があります。2 次側は 2 レベルの波形を用意する必要があります電流は三角波にする必要があります