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ADC12D1620QML-SP

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Strahlungsfester ADC, QML-V, 300 krad, 12 Bit, dual 1,6 GSPS oder einzeln 3,2 GSPS

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Datenblatt

ADC12D1620QML-SP

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Produktdetails

Sample rate (max) (Msps) 1600, 3200 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1, 2 Interface type Parallel LVDS Analog input BW (MHz) 2400 Features Ultra High Speed Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 0.8 Power consumption (typ) (mW) 3880 Architecture Folding Interpolating SNR (dB) 59.8 ENOB (Bits) 9.5 SFDR (dB) 67.4 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input buffer Yes Radiation, TID (typ) (krad) 300 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 120
Sample rate (max) (Msps) 1600, 3200 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1, 2 Interface type Parallel LVDS Analog input BW (MHz) 2400 Features Ultra High Speed Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 0.8 Power consumption (typ) (mW) 3880 Architecture Folding Interpolating SNR (dB) 59.8 ENOB (Bits) 9.5 SFDR (dB) 67.4 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input buffer Yes Radiation, TID (typ) (krad) 300 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 120
CLGA (FVA) 256 780.6436 mm² (0 mm × 0 mm) CCGA (NAA) 376 780.6436 mm² (0 mm × 0 mm)
  • Total ionizing dose (TID) to 300 krad(Si)
  • Single event functional interrupt (SEFI) tested
  • Single event latch-up (SEL) > 120 MeV-cm2/mg
  • Cold sparing capable
  • Wide temperature range –55°C to +125°C
  • Power consumption = 3.8 W or 2.7 W (1600- or 800-MHz clock)
  • 3-dB Input bandwidth = 3 GHz
  • Low-sampling power-saving mode (LSPSM) reduces power consumption and improves performance for fCLK ≤ 800 MHz
  • Auto-sync function for multi-chip systems
  • Time stamp feature to capture external trigger
  • Test patterns at output for system debug
  • 1:1 Non-demuxed or 1:2 or 1:4 parallel demuxed LVDS outputs
  • Single 1.9-V power supply
  • Total ionizing dose (TID) to 300 krad(Si)
  • Single event functional interrupt (SEFI) tested
  • Single event latch-up (SEL) > 120 MeV-cm2/mg
  • Cold sparing capable
  • Wide temperature range –55°C to +125°C
  • Power consumption = 3.8 W or 2.7 W (1600- or 800-MHz clock)
  • 3-dB Input bandwidth = 3 GHz
  • Low-sampling power-saving mode (LSPSM) reduces power consumption and improves performance for fCLK ≤ 800 MHz
  • Auto-sync function for multi-chip systems
  • Time stamp feature to capture external trigger
  • Test patterns at output for system debug
  • 1:1 Non-demuxed or 1:2 or 1:4 parallel demuxed LVDS outputs
  • Single 1.9-V power supply

The ADC12D1620QML uses a package redesign to achieve better ENOB, SNR, and X-talk compared to the ADC12D1600QML. As is its predecessor, the ADC12D1620QML is a low-power, high-performance CMOS analog-to-digital converter (ADC) that digitizes signals at a 12-bit resolution at sampling rates up to 3.2 GSPS in an interleaved mode. It can also be used as a dual-channel ADC for sampling rates up to 1.6 GSPS. For sampling rates below 800 MHz, there is a low-sampling power-saving mode (LSPSM) that reduces power consumption to less than 1.4 W per channel (typical). The ADC can support conversion rates as low as 200 MSPS.

The ADC12D1620QML uses a package redesign to achieve better ENOB, SNR, and X-talk compared to the ADC12D1600QML. As is its predecessor, the ADC12D1620QML is a low-power, high-performance CMOS analog-to-digital converter (ADC) that digitizes signals at a 12-bit resolution at sampling rates up to 3.2 GSPS in an interleaved mode. It can also be used as a dual-channel ADC for sampling rates up to 1.6 GSPS. For sampling rates below 800 MHz, there is a low-sampling power-saving mode (LSPSM) that reduces power consumption to less than 1.4 W per channel (typical). The ADC can support conversion rates as low as 200 MSPS.
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Technische Dokumentation

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* Datenblatt ADC12D1620QML-SP 12-Bit, Single Or Dual, 3200- or 1600-MSPS RF Sampling Analog-to-Digital Converter (ADC) datasheet (Rev. A) PDF | HTML 12.10.2021
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht ADC12D1600QML-SP/ADC12D1620QML-SP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report 27.07.2020
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht Single Event Effects Characterization of Texas Instruments ADC12D1600CCMLS 14.06.2018
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht ADC12D1600CCMLS TID Report 17.01.2013
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht Analysis of Low Dose Rate Effects on Parasitic Bipolar Structures in CMOS Proces 04.05.2012
Auswahlhilfe TI Space Products (Rev. L) 27.03.2026
Application brief DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. C) PDF | HTML 17.06.2025
Anwendungshinweis Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. B) PDF | HTML 10.06.2025
Weitere Dokumente TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. B) 20.02.2025
Anwendungshinweis Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 19.10.2022
Application brief Understanding Op Amp Noise in Audio Circuits PDF | HTML 14.06.2021
Benutzerhandbuch ADC1xD1x00CVAL Board User’s Guide 09.06.2017

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

TSW12D1620EVM-CVAL — ,ADC12D1620QML-SP Evaluierungsmodul, 300 krad, 12 Bit, 1,6 GSPS zweifach oder 3,2 GSPS ADC einzeln

Das TSW12D1620EVM-CVAL ist ein Evaluierungsmodul (EVM) für 1,5-GHz-Breitband-Empfänger, das Keramikmodelle des Verstärkers, Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC), Taktung, Temperatursensor, Mikrocontroller und Stromversorgungslösung umfasst. Die Platine eignet sich am besten für die Digitalisierung von (...)

Benutzerhandbuch: PDF
Unterstützte Produkte und Hardware
Vorrätig
Limit:
??asset.out-of-stock-ti_de_DE??
Nicht verfügbar
Firmware

SBAC235 — MSP430FR5969 Firmware

Unterstützte Produkte und Hardware
Referenzdesign

TIDA-070004 — Raumfahrttaugliches Referenzdesign mit integriertem Temperatursensor mit digitalem Ausgang

Dieses Referenzdesign illustriert die Tatsache, dass mehrere Raumfahrtprojekte eine Telemetrie des Systemzustands bereitstellen, die vom Bodenpersonal in Echtzeit überwacht wird. Dieses Referenzdesign zeigt ein Beispiel für den Einsatz eines Temperatursensors mit digitalem Ausgang zur Erfassung (...)
Unterstützte Produkte und Hardware
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
CLGA (FVA) 256 Ultra Librarian
CCGA (NAA) 376 Ultra Librarian
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