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SN54SC245-SEP

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Achtfach-Bustransceiver, 1,2 bis 5,5 V, mit Tri-State Ausgängen, Space Enhanced Plastic

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Datenblatt

SN54SC245-SEP

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Produktdetails

Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
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Technische Dokumentation

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Typ Titel Datum
* Data sheet SN54SC245-SEP Radiation-Tolerant, 1.2-V to 5.5-V, Octal Bus TransceiversWith 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 28 Jun 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 17 Okt 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Reliability Report PDF | HTML 23 Aug 2023
* Radiation & reliability report SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 16 Aug 2023

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14-polige bis 24-polige D-, DB-, DGV-, DW-, DYY-, NS-

Das 14-24-LOGIC-EVM-Evaluierungsmodul (EVM) ist für die Unterstützung aller Logikgeräte konzipiert, die sich in einem 14-Pin- bis 24-Pin-D-, DW-, DB-, NS-, PW-, DYY- oder DGV-Gehäuse befinden.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Nicht verfügbar auf TI.com
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Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
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Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

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