SN54SC8T157-SEP

AKTIV

Produktdetails

Technology family SCxT Number of channels 8 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
Technology family SCxT Number of channels 8 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/25624-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • Vendor item drawing available, VID V62/25624-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50MeV-cm2/mg
  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • Single-supply voltage translator:

    • Up translation:

      • 1.2V to 1.8V

      • 1.5V to 2.5V

      • 1.8V to 3.3V

      • 3.3V to 5.0V

    • Down translation:

      • 5.0V, 3.3V, 2.5V to 1.8V
      • 5.0V, 3.3V to 2.5V
      • 5.0V to 3.3V
  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic:
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC8T157-SEP contains four data selectors/multiplexers to select one of two data sources. All channels are controlled by the same address select (A/B) input, and strobe (G) input. A high level at the strobe terminal forces all outputs low.

The SN54SC8T157-SEP contains four data selectors/multiplexers to select one of two data sources. All channels are controlled by the same address select (A/B) input, and strobe (G) input. A high level at the strobe terminal forces all outputs low.

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Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
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Alle anzeigen 4
Typ Titel Datum
* Data sheet SN54SC8T157-SEP Radiation Tolerant, Quadruple 2-Line to 1-Line Data Selectors/Multiplexers datasheet PDF | HTML 21 Jan 2025
* Radiation & reliability report SN54SC8T157-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 21 Feb 2025
* Radiation & reliability report SN54SC8T138-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 20 Feb 2025
* Radiation & reliability report SN54SC8T157-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 19 Feb 2025

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

14-24-NL-LOGIC-EVM — Generisches Logikprodukt-Evaluierungsmodul für 14- bis 24-polige bleifreie Gehäuse

14-24-NL-LOGIC-EVM ist ein flexibles Evaluierungsmodul (EVM), das alle Logik- oder Übersetzungsbausteine mit einem 14- bis 24-poligen BQA-, BQB-, RGY-, RSV-, RJW- oder RHL-Gehäuse unterstützt.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Support und Schulungen

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Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

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