SN74AUP1G80

AKTIV

Energieeffizientes Einzelflipflop (Typ D) mit positiver Flankensteuerung

Produktdetails

Number of channels 1 Technology family AUP Supply voltage (min) (V) 0.8 Supply voltage (max) (V) 3.6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 260 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 0.9 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Number of channels 1 Technology family AUP Supply voltage (min) (V) 0.8 Supply voltage (max) (V) 3.6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 260 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 0.9 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
DSBGA (YFP) 6 1.4000000000000001 mm² 1 x 1.4000000000000001 SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1 USON (DRY) 6 1.45 mm² 1.45 x 1 X2SON (DPW) 5 0.64 mm² 0.8 x 0.8 X2SON (DSF) 6 1 mm² 1 x 1
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Performance Tested Per JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model
      (A114-B, Class II)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Available in the Texas Instruments NanoStar™ Package
  • Low Static-Power Consumption
    (ICC = 0.9 µA Maximum)
  • Low Dynamic-Power Consumption
    (Cpd = 4.3 pF Typical at 3.3 V)
  • Low Input Capacitance (Ci = 1.5 pF Typical)
  • Low Noise – Overshoot and Undershoot <10% of VCC
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Schmitt-Trigger Action Allows Slow Input Transition and Better Switching Noise Immunity at the Input
    (Vhys = 250 mV Typical at 3.3 V)
  • Wide Operating VCC Range of 0.8 V to 3.6 V
  • Optimized for 3.3-V Operation
  • 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
  • tpd = 4.4 ns Maximum at 3.3 V
  • Suitable for Point-to-Point Applications
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Performance Tested Per JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model
      (A114-B, Class II)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Available in the Texas Instruments NanoStar™ Package
  • Low Static-Power Consumption
    (ICC = 0.9 µA Maximum)
  • Low Dynamic-Power Consumption
    (Cpd = 4.3 pF Typical at 3.3 V)
  • Low Input Capacitance (Ci = 1.5 pF Typical)
  • Low Noise – Overshoot and Undershoot <10% of VCC
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Schmitt-Trigger Action Allows Slow Input Transition and Better Switching Noise Immunity at the Input
    (Vhys = 250 mV Typical at 3.3 V)
  • Wide Operating VCC Range of 0.8 V to 3.6 V
  • Optimized for 3.3-V Operation
  • 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
  • tpd = 4.4 ns Maximum at 3.3 V
  • Suitable for Point-to-Point Applications

The AUP family is TI’s premier solution to the industry’s low-power needs in battery-powered portable applications. This family assures a low static- and dynamic-power consumption across the entire VCC range of 0.8 V to 3.6 V, resulting in increased battery life (see AUP – The Lowest-Power Family). This product also maintains excellent signal integrity (see Excellent Signal Integrity).

This is a single positive-edge-triggered D-type flip-flop. When data at the data (D) input meets the setup time requirement, the data is transferred to the Q output on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input can be changed without affecting the levels at the outputs.

NanoStar™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.

The AUP family is TI’s premier solution to the industry’s low-power needs in battery-powered portable applications. This family assures a low static- and dynamic-power consumption across the entire VCC range of 0.8 V to 3.6 V, resulting in increased battery life (see AUP – The Lowest-Power Family). This product also maintains excellent signal integrity (see Excellent Signal Integrity).

This is a single positive-edge-triggered D-type flip-flop. When data at the data (D) input meets the setup time requirement, the data is transferred to the Q output on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input can be changed without affecting the levels at the outputs.

NanoStar™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.

Herunterladen Video mit Transkript ansehen Video

Ähnliche Produkte, die für Sie interessant sein könnten

Drop-In-Ersatz mit gegenüber dem verglichenen Baustein verbesserter Funktionalität
SN74LVC1G74 AKTIV Einfach-Flipflop (Typ D) mit positiver Flankensteuerung, Clear und Preset Larger voltage range (1.65V to 5.5V), higher drive average drive strength (24mA)
Selbe Funktionalität wie der verglichene Baustein bei gleicher Anschlussbelegung
SN74LVC1G80 AKTIV Einfach-Flipflop (Typ D) mit positiver Flankensteuerung Larger voltage range (1.65V to 5.5V), higher drive average drive strength (24mA)

Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
Keine Ergebnisse gefunden. Bitte geben Sie einen anderen Begriff ein und versuchen Sie es erneut.
Alle anzeigen 8
Typ Titel Datum
* Data sheet SN74AUP1G80 Low-Power Single Positive-Edge-Triggered D-Type Flip-Flop datasheet (Rev. F) PDF | HTML 20 Jul 2017
Application brief Understanding Schmitt Triggers (Rev. B) PDF | HTML 17 Apr 2025
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 15 Dez 2022
Selection guide Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 06 Jul 2018
Application note Designing and Manufacturing with TI's X2SON Packages 23 Aug 2017
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 Jun 2017
Application note How to Select Little Logic (Rev. A) 26 Jul 2016
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 Jul 2004

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

5-8-LOGIC-EVM — Generisches Logik-Evaluierungsmodul für 5- bis 8-polige DCK-, DCT-, DCU-, DRL- und DBV-Gehäuse

Flexibles EVM zur Unterstützung aller Geräte mit 5- bis 8-poligem DCK-, DCT-, DCU-, DRL- oder DBV-Gehäuse.
Benutzerhandbuch: PDF
Simulationsmodell

SN74AUP1G80 IBIS Model (Rev. B)

SCEM444B.ZIP (64 KB) - IBIS Model
Referenzdesigns

TIDA-01056 — Referenzdesign für 20-Bit-1-MSPS-DAQ zur Optimierung der Stromversorgungseffizienz bei gleichzeitige

Dieses Referenzdesign für Hochleistungs-Datenerfassungssysteme (Data Acquisition, DAQ) optimiert die Leistungsstufe, um den Stromverbrauch zu reduzieren und die Auswirkungen von EMI vom Schaltregler durch den Einsatz eines LMS3635-Q1-Abwärtswandlers zu minimieren.  Dieses Referenzdesign bietet (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Referenzdesigns

TIDA-01054 — Multi-Rail-Leistungs-Referenzdesign zur Eliminierung von EMI-Effekten in Hochleistungs-DAQ-Systemen

Das Referenzdesign TIDA-01054 trägt mithilfe des LM53635-Abwärtswandlers zur Eliminierung der leistungsmindernden Auswirkungen von EMI auf Datenerfassungssysteme (DAQ) bei, die größer als 16 Bit sind. Der Abwärtswandler ermöglicht es Entwicklern, Stromversorgungslösungen in der Nähe des Signalwegs (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Referenzdesigns

TIDA-01055 — ADC-Spannungsreferenzpuffer-Optimierung – Referenzdesign für Hochleistungs-DAQ-Systeme

Das TIDA-01055-Referenzdesign für Hochleistungs-Datenerfassungssysteme (DAQ) optimiert den ADC-Referenzpuffer zur Verbesserung der SNR-Leistung und Reduzierung des Stromverbrauchs mit dem Hochgeschwindigkeits-Operationsverstärker OPA837 von TI. Dieser Baustein wird in einer zusammengesetzten (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Referenzdesigns

TIDA-01057 — Referenzdesign Maximierung des dynamischen Signalbereichs für echten Differenzeingang von 10 Vpp bis

Dieses Referenzdesign wurde für hochleistungsfähige Datenerfassungssysteme (DAQ) entwickelt, um den Dynamikbereich von ADCs mit 20 Bit und Differenzeingang zu verbessern. Viele DAQ-Systeme benötigen die Messfähigkeit mit einem großen Gesamtbereich (Full Scale Range, FSR), um einen ausreichenden (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Referenzdesigns

TIDA-01051 — Referenzdesign zur Optimierung der FPGA-Auslastung und des Datendurchsatzes für automatische Prüfger

Das TIDA-01051-Referenzdesign dient zur Demonstration optimierter Kanaldichte, Integration, Stromverbrauch, Taktverteilung und Signalkettenleistung von Datenerfassungssystemen mit sehr hoher Kanalanzahl, wie sie beispielsweise in automatischen Prüfgeräten (ATE) verwendet werden. Durch den Einsatz (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Referenzdesigns

TIDA-01050 — Referenzdesign eines optimierten Analog-Frontend-Datenerfassungssystems für 18-Bit-SAR-Datenwandler

Das Referenzdesign TIDA-01050 soll die Integration, den Stromverbrauch, die Leistung und die Taktprobleme verbessern, die typischerweise mit automatischen Prüfgeräten verbunden sind. Dieses Design eignet sich für jedes ATE-System, am besten jedoch für Systeme, die eine große Anzahl von (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Referenzdesigns

TIDA-01052 — ADC-Treiber-Referenzdesign zur Verbesserung des Full Scale THD bei negativer Versorgung

Das Referenzdesign TIDA-01052 soll die Steigerung der Systemleistung aufzeigen, die bei der Verwendung einer negativen Spannungsschiene an den analogen Frontend-Treiberverstärkern anstatt einer Erdung zu beobachten ist. Dieses Konzept steht in Bezug zu allen analogen Frontends, allerdings ist (...)
Design guide: PDF
Schaltplan: PDF
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
DSBGA (YFP) 6 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
USON (DRY) 6 Ultra Librarian
X2SON (DPW) 5 Ultra Librarian
X2SON (DSF) 6 Ultra Librarian

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Support und Schulungen

TI E2E™-Foren mit technischem Support von TI-Ingenieuren

Inhalte werden ohne Gewähr von TI und der Community bereitgestellt. Sie stellen keine Spezifikationen von TI dar. Siehe Nutzungsbedingungen.

Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos