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AFE2256

ACTIVO

Frontal analógico (AFE) de 256 canales para detectores digitales de rayos X y pantalla plana

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NUEVO AFE3256 ACTIVO Circuito frontal analógico (AFE) de 256 canales para detectores dinámicos y semidinámicos de rayos X Higher integration, fast scan time

AFE2256

ACTIVO
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Detalles del producto

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet AFE2256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. C) PDF | HTML 13 dic 2023
White paper Simplifying Power Conversion in High-Voltage Systems PDF | HTML 09 nov 2023
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 18 mar 2022
Technical article Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 28 mar 2017

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

AFE2256EVM — Frontal analógico AFE AFE2256 de 256 canales para módulo de evaluación de detectores digitales de ra

The AFE2256EVM is a compact USB based evaluation kit for evaluating the AFE2256 COF, a 256-channel analog front-end. The EVM is self-contained with DACs and power generation on-board which greatly reduces its dependency on external equipment. The kit consists of an EVM and two separate COF adapters (...)

Guía del usuario: PDF
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Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
Solicitar
Paquete Pasadores Descargar
COF (TBN) 325 Ver opciones
COF (TDR) 325 Ver opciones
COF (TDU) 320 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

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