Herramienta de diseño
DRV3245Q-Q1
Unidad de controlador de puerta trifásico con batería de 12 V de grado 1 de automoción con detección
Hoja de datos
DRV3245Q-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
- Functional Safety-Compliant
- Developed for functional safety applications
- Documentation available to aid ISO 26262 system design up to ASIL D
- Systematic capability up to ASIL D
- 4.5-V to 45-V operating voltage
- Programmable peak gate drive currents up to 1A
- Charge-pump gate driver for 100% Duty Cycle
- Current-shunt amplifiers and phase comparators
- A / C Device: 3 current-shunt amplifiers(1) and 3-phase comparators with status through SPI (1)
- B Device: 2 current-shunt amplifiers and 3-phase comparators with real-time monitor through digital pins
- S Device: 3 current-shunt amplifiers
- 3-PWM or 6-PWM input control up to 20 kHz
- Single PWM-mode commutation capability
- Supports both 3.3-V and 5-V digital interface
- Serial peripheral interface (SPI)
- Thermally-enhanced 48-Pin HTQFP
- Protection features:
- Internal regulators, battery voltage monitor
- SPI CRC
- Clock monitor
- Analog built-in self test
- Programmable dead-time control
- MOSFET shoot-through prevention
- MOSFET VDS overcurrent monitors
- Gate-source voltage real time monitor
- Overtemperature warning and Shutdown
(1)C device : Low-drift offset high-precision amplifiers
The DRV3245Q-Q1 device is a FET gate driver IC for three-phase motor-drive applications designed according to the applicable requirements of ISO 26262 for functional safety applications. The device provides three half-bridge drivers each capable of driving a high-side and low-side N-channel MOSFET while also providing sophisticated protection and monitoring of the FETs. A charge-pump driver enables 100% duty cycle and supports low battery voltages during cold-crank operation. The integration of current-sense amplifiers, integrated phase comparators, and SPI-based configuration of the driver and its peripherals enable reduction of the bill of materials (BOM) and space on the printed circuit board (PCB) because of the elimination of most external and passive components.
The DRV3245Q-Q1 device also integrates diagnostics and protection for each internal block and provides support for common system diagnostic checks each of which can be instantiated and reported through SPI. This flexibility of the integrated features allows the device to integrate seamlessly into a variety of safety architectures.
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Documentación técnica
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Ver todo 7 | Tipo | Título | Fecha | ||
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Diseño y desarrollo
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Placa de evaluación
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| HTQFP (PHP) | 48 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
Información incluida:
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
Soporte y capacitación
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