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CD4015B-MIL

アクティブ

CMOS デュアル 4 段スタティック・シフト・レジスタ

製品詳細

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 4 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 8.5 IOL (max) (mA) 4.2 IOH (max) (mA) -4.2 Supply current (max) (µA) 3000 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 4 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 8.5 IOL (max) (mA) 4.2 IOH (max) (mA) -4.2 Supply current (max) (µA) 3000 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • Medium speed operation...12 MHz (typ.) clock rate at VDD – VSS = 10 V
  • Fully static operation
  • 8 master-slave flip-flops plus input and output buffering
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Applications:
    • Serial-input/parallel-output data queueing
    • Serial to parallel data conversion
    • General-purpose register

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

  • Medium speed operation...12 MHz (typ.) clock rate at VDD – VSS = 10 V
  • Fully static operation
  • 8 master-slave flip-flops plus input and output buffering
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package-temperature range) =
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
  • Applications:
    • Serial-input/parallel-output data queueing
    • Serial to parallel data conversion
    • General-purpose register

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

CD4015B consists of two identical, independent, 4-stage serial-input/parallel-output registers. Each register has independent CLOCK and RESET inputs as well as a single serial DATA input. "Q" outputs are available from each of the four stages on both registers. All register stages are D-type, master-slave flip-flops. The logic level present at the DATA input is transferred into the first register stage and shifted over one stage at each positive-going clock transition. Resetting of all stages is accomplished by a high level on the reset line. Register expansion to 8 stages using one CD4015B package, or to more than 8 stages using additional CD4015B’s is possible.

The CD4015B-series types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic package (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4015B consists of two identical, independent, 4-stage serial-input/parallel-output registers. Each register has independent CLOCK and RESET inputs as well as a single serial DATA input. "Q" outputs are available from each of the four stages on both registers. All register stages are D-type, master-slave flip-flops. The logic level present at the DATA input is transferred into the first register stage and shifted over one stage at each positive-going clock transition. Resetting of all stages is accomplished by a high level on the reset line. Register expansion to 8 stages using one CD4015B package, or to more than 8 stages using additional CD4015B’s is possible.

The CD4015B-series types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic package (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, MT, and NSR suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD4015B Types データシート (Rev. D) 2003年 10月 14日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 2001年 12月 3日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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