CD74ACT112

アクティブ

セットとリセット搭載、デュアル・ネガティブ・エッジ・トリガ J-K フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 2 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

The ’ACT112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse (CLK). Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

The ’ACT112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse (CLK). Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD54ACT112, CD74ACT112 データシート 2003年 1月 17日
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設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (D) 16 オプションの表示

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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