製品詳細

Number of channels (#) 2 Output type Open-drain Propagation delay time (µs) 0.6 Vs (Max) (V) 5.5 Vs (Min) (V) 1.65 Vos (offset voltage @ 25 C) (Max) (mV) 2 Iq per channel (Typ) (mA) 0.025 Input bias current (+/-) (Max) (nA) 0.005 Rail-to-rail In Rating Catalog Operating temperature range (C) -40 to 125 Features POR VICR (Max) (V) 5.5 VICR (Min) (V) 0
Number of channels (#) 2 Output type Open-drain Propagation delay time (µs) 0.6 Vs (Max) (V) 5.5 Vs (Min) (V) 1.65 Vos (offset voltage @ 25 C) (Max) (mV) 2 Iq per channel (Typ) (mA) 0.025 Input bias current (+/-) (Max) (nA) 0.005 Rail-to-rail In Rating Catalog Operating temperature range (C) -40 to 125 Features POR VICR (Max) (V) 5.5 VICR (Min) (V) 0
SOIC (D) 8 19 mm² 4.9 x 3.9 SOT-23-THN (DDF) 8 8 mm² 2.9 x 2.8 TSSOP (PW) 8 19 mm² 3 x 6.4 VSSOP (DGK) 8 15 mm² 3 x 4.9 WSON (DSG) 8 4 mm² 2 x 2
  • 1.65 V to 5.5 V Supply range
  • Rail-to-Rail input with Failsafe
  • Low input offset voltage 400 µV Typ
  • 600ns Typ propagation delay
  • Low quiescent current 25 µA/Ch Typ
  • Low input bias current 5 pA Typ
  • Open-drain output
  • Full -40°C to +125°C temperature range
  • Power-On Reset (POR) for known start-up
  • 2 kV ESD protection
  • Improved replacement for LM393 & LM339 family for VCC ≤ 5 V.
  • 1.65 V to 5.5 V Supply range
  • Rail-to-Rail input with Failsafe
  • Low input offset voltage 400 µV Typ
  • 600ns Typ propagation delay
  • Low quiescent current 25 µA/Ch Typ
  • Low input bias current 5 pA Typ
  • Open-drain output
  • Full -40°C to +125°C temperature range
  • Power-On Reset (POR) for known start-up
  • 2 kV ESD protection
  • Improved replacement for LM393 & LM339 family for VCC ≤ 5 V.

The LV device family consists of two (LM393LV), or four (LM339LV), independent voltage comparators that are designed to operate from a wide range of supply voltages. The LV devices can drop-in replace the standard LM2xx, LM3xx and LM290x comparator family in low voltage (≤ 5 V) applications for improved performance and added features.

The LV devices include a Power On Reset (POR) feature that ensures the output is in a High-Z state until the minimum supply voltage has been reached. This prevents output transients during system power-up and power-down.

These comparators also feature Rail to Rail inputs and no output phase inversion with inputs that can go up to 6V without damage. This makes this family of comparators well suited for precision voltage monitoring in harsh, noisy environments.

The LV devices are specified for the temperature range of -40°C to +125°C, which covers the temperature ranges of all the LM2xx, LM3xx and LM290x comparator families.

The LV device family consists of two (LM393LV), or four (LM339LV), independent voltage comparators that are designed to operate from a wide range of supply voltages. The LV devices can drop-in replace the standard LM2xx, LM3xx and LM290x comparator family in low voltage (≤ 5 V) applications for improved performance and added features.

The LV devices include a Power On Reset (POR) feature that ensures the output is in a High-Z state until the minimum supply voltage has been reached. This prevents output transients during system power-up and power-down.

These comparators also feature Rail to Rail inputs and no output phase inversion with inputs that can go up to 6V without damage. This makes this family of comparators well suited for precision voltage monitoring in harsh, noisy environments.

The LV devices are specified for the temperature range of -40°C to +125°C, which covers the temperature ranges of all the LM2xx, LM3xx and LM290x comparator families.

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技術資料

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* データシート LM393LV Dual and LM339LV Quad Low Voltage, Rail-to-Rail Comparators データシート (Rev. B) PDF | HTML 2020年 12月 2日

設計および開発

追加の事項や他のリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックすると、詳細ページを表示できます。

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パッケージ ピン数 ダウンロード
SOIC (D) 8 オプションの表示
SOT-23-THIN (DDF) 8 オプションの表示
TSSOP (PW) 8 オプションの表示
VSSOP (DGK) 8 オプションの表示
WSON (DSG) 8 オプションの表示

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL rating / リフローピーク温度
  • MTBF/FIT 推定値
  • 原材料組成
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果

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