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SN54SC1G125-SEP

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트리플 상태 출력을 지원하는 방사선 내성 싱글 채널 버퍼

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SN54SC1G125-SEP

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제품 상세 정보

Rating Space Operating temperature range (°C) to
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SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8
  • VID TBD-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50 krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30 krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30 krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50 MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50 MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
  • VID TBD-01XE
  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID):
    • TID characterized up to 50 krad(Si)
    • TID performance assurance up to 30 krad(Si)
    • Radiation Lot Acceptance Testing (RLAT) for every wafer lot up to 30 krad(Si)
  • Radiation - Single-Event Effects (SEE):
    • Single Event Latch-Up (SEL) immune up to 50 MeV-cm2/mg at 125°C
    • Single Event Transient (SET) characterized up to LET = 50 MeV-cm2/mg

  • Wide operating range of 1.2V to 5.5V

  • 5.5V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150Mbps with 5V or 3.3V VCC
  • Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
  • Space enhanced plastic:
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Controlled baseline
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability

The SN54SC1G125-SEP is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input pin is at a logic high level. When (OE) is at a logic low level, true data is passed from the A input to the Y output.

white space

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The SN54SC1G125-SEP is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input pin is at a logic high level. When (OE) is at a logic low level, true data is passed from the A input to the Y output.

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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet SN54SC1G125-SEP Radiation Tolerant, Single Bus Buffer Gate with 3-State Output datasheet PDF | HTML 2025/07/15

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈

5~8핀 수의 DCK, DCT, DCU, DRL 또는 DBV 패키지가 있는 모든 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 EVM.
사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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