JAJSXJ8 November 2025 ADC32RF72
PRODUCTION DATA
| パラメータ | テスト条件 | 最小値 | 公称値 | 最大値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| ADC タイミング仕様 | ||||||
| TAD | アパーチャ遅延 | 0.15 | ns | |||
| アパーチャ遅延の変動 | 0.05 | ns | ||||
| TA | アパーチャ ジッタ | 40 | fs | |||
| CER | コード エラー レート | 1e-15 | エラー / サンプル | |||
| ウェークアップ時間 | 高速パワーダウン終了後 (JESD はアクティブのまま) 有効なデータまでの時間 (SNR はデータシートの値から 2dB 以内) | 5 | μs | |||
| レイテンシ:tPD + tADC | ||||||
| tPD | 伝搬遅延 | 1 | ns | |||
| tADC | サンプリングの瞬間から JESD 出力までの ADC レイテンシ | DDC バイパス、LMFS = 8411 | 524 | ADC クロック サイクル | ||
| シリアル プログラミング インターフェイス (SCLK, SEN, SDIO) - 入力 | ||||||
| fCLK(SCLK) | シリアル クロック周波数 | 1 | 50 | MHz | ||
| tS(SEN) | SCLK の立ち上がりエッジへの SEN | 10 | ns | |||
| tH(SEN) | SCLK の立ち上がりエッジからの SEN | 10 | ns | |||
| tSU(SDIO) | SCLK の立ち上がりエッジへの SDIO | 10 | ns | |||
| tH(SDIO) | SCLK の立ち上がりエッジからの SDIO | 10 | ns | |||
| シリアルプログラミングインターフェイス (SDIO、SDOUT) - 出力 | ||||||
| t(OZD) | SDIO トライステートから駆動へ | 10 | ns | |||
| t(ODZ) | SDIO データからトライステートへ | 14 | ns | |||
| t(OD) | SDIO は SCLK の立ち下がりエッジから有効 | 10 | ns | |||
| タイミング:SYSREFP/N | ||||||
| ts(SYSREF) | セットアップ時間、SYSREFP/N 有効から CLKP/N の立ち上がりエッジまで | 50 | ps | |||
| th(SYSREF) | ホールド時間、SYSREFP/N 有効から CLKP/N の立ち上がりエッジまで | 50 | ps | |||
| CML SerDes 出力:STX[0..7]P/N | ||||||
| fSerdes | SerDes ビットレート | 4.0 | 24.75 | Gbps | ||
| R J | ランダム ジッタ | 0.45 | ps | |||
| DJ | 確定的ジッタ | 12.5 | ps | |||
| TJ | 総ジッタ、ピークツーピーク | 19.7 | ps | |||