JAJSWE6 April   2025 ADC3664-EP , ADC3664-SEP

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性 - 消費電力
    6. 5.6 電気的特性 - DC 仕様
    7. 5.7 電気的特性 - AC 仕様
    8. 5.8 タイミング要件
    9. 5.9 代表的特性
  7. 6 パラメータ測定情報
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1 アナログ入力
        1. 7.3.1.1 アナログ入力帯域幅
        2. 7.3.1.2 アナログ フロント エンド設計
          1. 7.3.1.2.1 サンプリング グリッチ フィルタ設計
          2. 7.3.1.2.2 アナログ入力終端および DC バイアス
            1. 7.3.1.2.2.1 AC 結合
            2. 7.3.1.2.2.2 DC 結合
      2. 7.3.2 クロック入力
        1. 7.3.2.1 シングル エンド入力 対 差動クロック入力
      3. 7.3.3 電圧リファレンス
        1. 7.3.3.1 内部基準電圧
        2. 7.3.3.2 外部基準電圧 (VREF)
        3. 7.3.3.3 内部バッファ付き外部基準電圧 (REFBUF/CTRL)
      4. 7.3.4 デジタル ダウン コンバータ
        1. 7.3.4.1 DDC MUX
        2. 7.3.4.2 デジタル フィルタ動作
        3. 7.3.4.3 FS/4 ミキシングと実数出力
        4. 7.3.4.4 数値制御発振器 （NCO） およびデジタル ミキサ
        5. 7.3.4.5 デシメーション フィルタ
        6. 7.3.4.6 SYNC
        7. 7.3.4.7 デシメーションを使用した出力フォーマット
      5. 7.3.5 デジタル インターフェイス
        1. 7.3.5.1 出力 フォーマッタ
        2. 7.3.5.2 出力ビット マッパー
          1. 7.3.5.2.1 2 線式モード
          2. 7.3.5.2.2 1 線式モード
          3. 7.3.5.2.3 1/2 線式モード
        3. 7.3.5.3 出力インターフェイスおよびモード構成
          1. 7.3.5.3.1 構成例
        4. 7.3.5.4 出力データ フォーマット
      6. 7.3.6 テスト・パターン
    4. 7.4 デバイスの機能モード
      1. 7.4.1 通常動作
      2. 7.4.2 パワー ダウン オプション
    5. 7.5 プログラミング
      1. 7.5.1 ピンのみを使用した構成
      2. 7.5.2 SPI インターフェイスを使用した構成
        1. 7.5.2.1 レジスタ書き込み
        2. 7.5.2.2 レジスタ読み出し
  9. 8 アプリケーション情報に関する免責事項
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 設計要件
      2. 8.2.2 詳細な設計手順
        1. 8.2.2.1 入力信号パス
        2. 8.2.2.2 サンプリング クロック
        3. 8.2.2.3 電圧リファレンス
      3. 8.2.3 アプリケーション曲線
    3. 8.3 初期化セットアップ
      1. 8.3.1 動作中のレジスタ初期化
    4. 8.4 電源に関する推奨事項
    5. 8.5 レイアウト
      1. 8.5.1 レイアウトのガイドライン
      2. 8.5.2 レイアウト例
  10. 9 レジスタ マップ
    1. 9.1 レジスタの詳細説明
  11. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    2. 10.2 サポート・リソース
    3. 10.3 商標
    4. 10.4 静電気放電に関する注意事項
    5. 10.5 用語集
  12. 11改訂履歴
  13. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1. 12.1 メカニカル データ

パッケージ・オプション

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • RSB|40
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

7.3.6 テスト・パターン

デジタル インターフェイスのイン サーキット テストを可能にするために、以下のテスト パターンがサポートされており、SPI レジスタ (0x14/0x15/0x16) への書き込みによって有効化されます。テスト パターン ジェネレータは、図 7-40 に示すようにデシメーションフィルタの後に配置されています。デシメーション モード (実数および複素数) では、テスト パターンが DDC の出力データに置き換わります。ただし、テスト パターンの制御はチャネル A が両チャネル分を担当します。

ADC3664-SEP ADC3664-EP テスト パターン ジェネレータ図 7-40 テスト パターン ジェネレータ

  • RAMP パターン：ステップ サイズは、ADC のネイティブ解像度に応じて、CUSTOM PAT レジスタで設定する必要があります。より高い出力解像度を選択した場合でも、RAMP パターン モードでは追加された LSB は依然として 0 になります。
    • 00001：18 ビット出力分解能
    • 00100：16 ビット出力分解能
    • 10000：14 ビット出力分解能
  • カスタム パターン：CUSTOM PAT レジスタで設定