JAJSUB6C November   2024  – September 2025 BQ27Z758

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
      1. 5.5.1 電源電流
      2. 5.5.2 共通アナログ (LDO、LFO、HFO、REF1、REF2、I-WAKE)
      3. 5.5.3 バッテリ保護 (CHG、DSG)
      4. 5.5.4 セル センシング出力 (BAT_SP、BAT_SN)
      5. 5.5.5 残量計の測定 (ADC、CC、温度)
      6. 5.5.6 フラッシュ メモリ
    6. 5.6 デジタル I/O：DC の特性
    7. 5.7 デジタル I/O：タイミング特性
    8. 5.8 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1  BQ27Z758 プロセッサ
      2. 6.3.2  バッテリ パラメータの測定値
        1. 6.3.2.1 クーロン カウンタ (CC) とデジタル フィルタ
        2. 6.3.2.2 ADC マルチプレクサ
        3. 6.3.2.3 A/D コンバータ (ADC)
        4. 6.3.2.4 内部温度センサ
        5. 6.3.2.5 外部温度センサのサポート
      3. 6.3.3  電源制御
      4. 6.3.4  ENAB ピン
      5. 6.3.5  バス通信インターフェイス
      6. 6.3.6  低周波発振器
      7. 6.3.7  高周波発振器
      8. 6.3.8  1.8V 低ドロップアウト レギュレータ
      9. 6.3.9  内部基準電圧
      10. 6.3.10 放電時の過電流保護
      11. 6.3.11 充電時の過電流保護
      12. 6.3.12 放電時の短絡電流保護
      13. 6.3.13 1 次保護機能
      14. 6.3.14 バッテリ検出
      15. 6.3.15 バッテリ残量計
      16. 6.3.16 ゼロ ボルト充電 (ZVCHG)
      17. 6.3.17 充電制御機能
      18. 6.3.18 認証
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 寿命に関する記録機能
      2. 6.4.2 構成
        1. 6.4.2.1 クーロン カウント
        2. 6.4.2.2 セルの電圧測定
        3. 6.4.2.3 自動キャリブレーション
        4. 6.4.2.4 温度測定
  8. 7 アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 設計要件 (デフォルト)
      2. 7.2.2 詳細な設計手順
        1. 7.2.2.1 設計パラメータの変更
      3. 7.2.3 キャリブレーション手順
      4. 7.2.4 残量計データの更新
        1. 7.2.4.1 アプリケーション曲線
      5. 7.2.5 ESD 軽減
    3. 7.3 電源要件
    4. 7.4 レイアウト
      1. 7.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 7.4.2 レイアウト例
  9. 8 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 8.2 ドキュメントのサポート
      1. 8.2.1 関連資料
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート・リソース
    5. 8.5 商標
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 9 改訂履歴
  11. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1.     付録：パッケージ･オプション
    2. 10.1 テープおよびリール情報
    3. 10.2 メカニカル データ

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • YAH|15
サーマルパッド・メカニカル・データ

5.5.4 セル センシング出力 (BAT_SP、BAT_SN)

特記のない限り、TA = –40 ～ 85℃ の条件下での特性を記載しています
パラメータテスト条件最小値標準値最大値単位
静的応答
VBUFACCバッファ精度
(BAT_SP - BAT_SN)		VBAT：1500mV および 2400mV DC、PACK-BAT_SP ≥ 200mV、BAT_SP 負荷：Hi-Z ～ 1kΩ、BAT_SN 負荷：1kΩ～10kΩ145015001550mV
235024002450
VBUFOFFSBAT_SN 同相シフト
(BAT_SN - VSS)		400mV オプション、VBAT = 1.5V ～ 2.5V370400430mV
200mV オプション、VBAT = 2.0V ～ 2.5V170200230
0mV オプション、VBAT = 2.0V ～ 2.5V-30030
600mV オプション、VBAT = 2.0 ～ 2.5V550600650
ΔVBUF_LINEバッファ ライン レギュレーションVBAT = 1.5 ～ 2.5V、無負荷、BAT_SP – BAT_SN、VPACK – VBAT = 1.0V10mV
ΔVBUF_LOADバッファ ロード レギュレーションVBAT = 2.4V、負荷 = 1mA、BAT_SP – BAT_SN、VPACK – VBAT = 1.0V1.2mV
VRLOACCRLO モードの精度
(BAT_SP - BAT_SN)		VBAT = 3000mV ～ 5000mV DC、安定性のため、0mV のバッファ オプションが有効、BAT_SP 負荷：Hi-Z ～ 1kΩ、BAT_SN 負荷：1kΩ～10kΩ-7+7mV
VRLOACCPRLO モードの精度
(BAT_SP – VSS)		-5+5
VRLOACCNRLO モードの精度
(BAT_SN – VSS)		-5+5
RLO_SPBAT_SP 低抵抗モード200Ω オプション、DSG FET = ON160200260Ω
510Ω オプション、DSG FET = ON459510561
RLO_SNBAT_SN 低抵抗モード200Ω オプション、DSG FET = ON160200260Ω
510Ω オプション、DSG FET = ON459510561
RHIZ_SPBAT_SP ハイ インピーダンス モードCHG FET = オフ0.61.01.3MΩ
RHIZ_SNBAT_SN ハイ インピーダンス モード0.61.01.3
tBUF_OFFバッファ ターンオフ時間 (1)DSG FET のターンオンに関するバッファ ディスエーブル タイミング500us
CBUF_SP安定動作のための最大外部容量 (1)BAT_SP から SRN (PACK–)150pF
CBUF_SNBAT_SN から SRN (PACK–)150
BBUF_BWバッファ ユニティ ゲイン帯域幅 (1)バッファ有効30kHz
VBCPBAT_SP - BAT + 故障検出 (BCP) スレッショルド範囲(1)

推奨のスレッショルド範囲。
約 2mV ステップで工場出荷時に調整済み

+100+250mV

工場出荷時デフォルト調整済みスレッショルド(3)

+200
VBCP_ACCBAT_SP - BAT + 故障検出精度(3)RLO モードが有効、
ステップ サイズ 10mV		-10+10
VBDPBAT_SP – BAT - 故障検出 (BDP) スレッショルド範囲(1)推奨のスレッショルド範囲。
約 2mV ステップで工場出荷時に調整済み		-250-100mV
工場出荷時デフォルト調整済みスレッショルド (3)-200
VBDP_ACCBAT_SP – BAT - 故障検出精度(3)RLO モードが有効、
ステップ サイズ 10mV		-10+10
VBCNBAT_SN – VSS + 故障検出 (BCN) スレッショルド範囲(1)推奨のスレッショルド範囲。
約 2mV ステップで工場出荷時に調整済み		+100+250mV
工場出荷時デフォルト調整済みスレッショルド (3)+200
VBCN_ACCBAT_SN – VSS + 故障検出精度(3)RLO モードが有効、
ステップ サイズ 10mV		-10+10
VBDNBAT_SN – VSS - 故障検出 (BDN) スレッショルド範囲(1)推奨のスレッショルド範囲。
約 2mV ステップで工場出荷時に調整済み		-250-100mV
工場出荷時デフォルト調整済みスレッショルド (3)-200
VBDN_ACCBAT_SN – VSS - 故障検出精度(3)RLO モードが有効、
ステップ サイズ 10mV		-10+10
tLO_FAULT_DLYBAT_SP / BAT_SN
故障検出コンパレータの遅延(1)		8ms の遅延8ms
100ms の遅延100ms
tLO_FAULT_STRTBAT_SP / BAT_SN
故障検出再起動時間(1)(2)		1000ms
過渡応答
VLOAD_SPBAT_SP 負荷過渡 (1)無負荷 ≥ 1KΩ ≥ 無負荷、
遷移時間 1μs		-300300mV
VLOAD_SNBAT_SN 負荷過渡(1)-200200mV
VLINE_SNBAT_SN ライン過渡(1)VBAT = 1.5V ≥ 2.4V ≥ 1.5V、
遷移スロープ 500mV / 10μs		-3030mV
VTRANS(BAT_SP - BAT_SN)
の遷移過渡(1)		ファームウェアの指示による BUF モードから RLO モードへの遷移-70050mV
(1) 設計により規定されています。実製品の検査は行っていません。
(2) ファームウェア ベースのパラメータ。実製品の検査は行っていません。
(3) 規定されたデフォルトのスレッショルドでの工場出荷時調整により精度が保証されています。デフォルトのスレッショルドから変更するには、現場でデバイスのキャリブレーションが必要です。『BQ27Z746R1 および BQ27Z758 テクニカル リファレンス マニュアル』 を参照してください。