JAJSUB6C November   2024  – September 2025 BQ27Z758

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
      1. 5.5.1 電源電流
      2. 5.5.2 共通アナログ (LDO、LFO、HFO、REF1、REF2、I-WAKE)
      3. 5.5.3 バッテリ保護 (CHG、DSG)
      4. 5.5.4 セル センシング出力 (BAT_SP、BAT_SN)
      5. 5.5.5 残量計の測定 (ADC、CC、温度)
      6. 5.5.6 フラッシュ メモリ
    6. 5.6 デジタル I/O：DC の特性
    7. 5.7 デジタル I/O：タイミング特性
    8. 5.8 代表的特性
  7. 6 詳細説明
    1. 6.1 概要
    2. 6.2 機能ブロック図
    3. 6.3 機能説明
      1. 6.3.1  BQ27Z758 プロセッサ
      2. 6.3.2  バッテリ パラメータの測定値
        1. 6.3.2.1 クーロン カウンタ (CC) とデジタル フィルタ
        2. 6.3.2.2 ADC マルチプレクサ
        3. 6.3.2.3 A/D コンバータ (ADC)
        4. 6.3.2.4 内部温度センサ
        5. 6.3.2.5 外部温度センサのサポート
      3. 6.3.3  電源制御
      4. 6.3.4  ENAB ピン
      5. 6.3.5  バス通信インターフェイス
      6. 6.3.6  低周波発振器
      7. 6.3.7  高周波発振器
      8. 6.3.8  1.8V 低ドロップアウト レギュレータ
      9. 6.3.9  内部基準電圧
      10. 6.3.10 放電時の過電流保護
      11. 6.3.11 充電時の過電流保護
      12. 6.3.12 放電時の短絡電流保護
      13. 6.3.13 1 次保護機能
      14. 6.3.14 バッテリ検出
      15. 6.3.15 バッテリ残量計
      16. 6.3.16 ゼロ ボルト充電 (ZVCHG)
      17. 6.3.17 充電制御機能
      18. 6.3.18 認証
    4. 6.4 デバイスの機能モード
      1. 6.4.1 寿命に関する記録機能
      2. 6.4.2 構成
        1. 6.4.2.1 クーロン カウント
        2. 6.4.2.2 セルの電圧測定
        3. 6.4.2.3 自動キャリブレーション
        4. 6.4.2.4 温度測定
  8. 7 アプリケーションと実装
    1. 7.1 アプリケーション情報
    2. 7.2 代表的なアプリケーション
      1. 7.2.1 設計要件 (デフォルト)
      2. 7.2.2 詳細な設計手順
        1. 7.2.2.1 設計パラメータの変更
      3. 7.2.3 キャリブレーション手順
      4. 7.2.4 残量計データの更新
        1. 7.2.4.1 アプリケーション曲線
      5. 7.2.5 ESD 軽減
    3. 7.3 電源要件
    4. 7.4 レイアウト
      1. 7.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 7.4.2 レイアウト例
  9. 8 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 8.1 サード・パーティ製品に関する免責事項
    2. 8.2 ドキュメントのサポート
      1. 8.2.1 関連資料
    3. 8.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 8.4 サポート・リソース
    5. 8.5 商標
    6. 8.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 8.7 用語集
  10. 9 改訂履歴
  11. 10メカニカル、パッケージ、および注文情報
    1.     付録：パッケージ･オプション
    2. 10.1 テープおよびリール情報
    3. 10.2 メカニカル データ

デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
  • YAH|15
サーマルパッド・メカニカル・データ

4 ピン構成および機能

BQ27Z758 ピン配置図図 4-1 ピン配置図
表 4-1 ピンの機能
ピン 説明
名称 番号 タイプ(1)
CHG A1 AO 充電 FET (CHG) ドライバ
DSG A2 AO 放電 FET (DSG) ドライバ10MΩ の直列標準抵抗 (RDSG) を、DSG ピンと PACK+ 正端子との間に接続します。
PACK A3 AI パック入力電圧検出ピン。5kΩ の直列標準抵抗 (RPACK) を、PACK ピンと PACK+ 正端子との間に接続します。
VDD B1 P LDO レギュレータ入力。VDD と VSS の間に 1μF の標準コンデンサ (CVDD) を接続します。このコンデンサは、残量計の近くに配置します。
BAT B2 AI バッテリ電圧測定のセンス入力
BAT_SP B3 AO セル センス出力、正
BAT_SN C3 AO セル センス出力、負
TS C1 AI ADC へのサーミスタ入力と内部 18kΩ プルアップ抵抗
GPO/TS1 C2 I/O 汎用出力。オプションの TS1 ADC 入力チャネルと内部 18kΩ プルアップ抵抗
VSS D1 P デバイスのグランド
ENAB D2 I VDD への弱い内部プルアップ付きのアクティブ Low デジタル入力。超低消費電力 SHELF モードが有効な場合、この信号を Low に駆動するとデバイスをウェークアップできます。
SDA D3 I/O I2C シリアル データ用のデジタル入力、オープン ドレイン出力。標準的な 10kΩ プルアップ抵抗を使用します。
SCL E3 I/O I2C シリアル クロック用のデジタル入力、オープン ドレイン出力。標準的な 10kΩ プルアップ抵抗を使用します。
SRP E1 AI SRP (正側) と SRN (負側) の間のわずかな電圧を積分するために、内部クーロン カウンタ ペリフェラルに接続された正のアナログ入力ピンです。
SRN E2 AI SRP (正側) と SRN (負側) の間のわずかな電圧を積分するために、内部クーロン カウンタ ペリフェラルに接続された負のアナログ入力ピンです。
(1) I/O = デジタル入出力、AI = アナログ入力、AO = アナログ出力、P = 電源接続