JAJSJX0A June   2021  – June 2025 TMCS1100-Q1

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 説明
  5. 4 デバイスの比較
  6. 5 ピン構成および機能
  7. 6 仕様
    1. 6.1  絶対最大定格
    2. 6.2  ESD 定格
    3. 6.3  推奨動作条件
    4. 6.4  熱に関する情報
    5. 6.5  電力定格
    6. 6.6  絶縁仕様
    7. 6.7  安全関連認証
    8. 6.8  安全限界値
    9. 6.9  電気的特性
    10. 6.10 代表的特性
      1. 6.10.1 絶縁特性曲線
  8. 7 パラメータ測定情報
    1. 7.1 精度パラメータ
      1. 7.1.1 感度誤差
      2. 7.1.2 オフセット誤差とオフセット誤差ドリフト
      3. 7.1.3 非直線性誤差
      4. 7.1.4 電源除去比
      5. 7.1.5 同相信号除去比
      6. 7.1.6 リファレンス電圧除去比
      7. 7.1.7 外部磁場エラー
    2. 7.2 過渡応答パラメータ
      1. 7.2.1 スルー レート
      2. 7.2.2 伝搬遅延と応答時間
      3. 7.2.3 過電流パラメータ
      4. 7.2.4 CMTI、同相電圧過渡耐性
    3. 7.3 安全動作領域
      1. 7.3.1 連続 DC または正弦波 AC 電流
      2. 7.3.2 反復的なパルス電流 SOA
      3. 7.3.3 単一イベント電流機能
  9. 8 詳細説明
    1. 8.1 概要
    2. 8.2 機能ブロック図
    3. 8.3 機能説明
      1. 8.3.1 電流入力
      2. 8.3.2 入力絶縁
      3. 8.3.3 高精度信号チェーン
        1. 8.3.3.1 温度安定性
        2. 8.3.3.2 寿命と環境安定性
        3. 8.3.3.3 周波数応答
        4. 8.3.3.4 過渡応答
      4. 8.3.4 外部リファレンス電圧入力
      5. 8.3.5 電流検出の測定可能範囲
    4. 8.4 デバイスの機能モード
      1. 8.4.1 パワーダウンの動作
  10. 9 アプリケーションと実装
    1. 9.1 アプリケーション情報
      1. 9.1.1 総誤差計算例
        1. 9.1.1.1 室温誤差の計算
        2. 9.1.1.2 全温度範囲の誤差の計算
    2. 9.2 代表的なアプリケーション
      1. 9.2.1 設計要件
      2. 9.2.2 詳細な設計手順
    3. 9.3 電源に関する推奨事項
    4. 9.4 レイアウト
      1. 9.4.1 レイアウトのガイドライン
      2. 9.4.2 レイアウト例
  11. 10デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 10.1 デバイス サポート
      1. 10.1.1 開発サポート
    2. 10.2 ドキュメントのサポート
      1. 10.2.1 関連資料
    3. 10.3 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    4. 10.4 サポート・リソース
    5. 10.5 商標
    6. 10.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 10.7 用語集
  12. 11改訂履歴
  13. 12メカニカル、パッケージ、および注文情報

8.3.2 入力絶縁

TMCS1100-Q1 の構造では、入力導体とホール センサ ダイが分離されるため、パッケージのピン 1 ～ 4 とピン 5 ～ 8 の間が本質的にガルバニック絶縁となります。絶縁能力は認証機関の定義に従って定義され、絶縁仕様表に定義されている業界標準の試験方法を使用しています。デバイスの寿命動作電圧の評価は、VDE 0884-11 の基本絶縁規格に従い、経時的絶縁破壊 (TDDB) データ プロジェクションの故障率は 100 万部品ごとに (ppm) 1000 未満、絶縁寿命は 20 年以上が要求されます。VDE 規格は、動作電圧に 20%、絶縁寿命に 30% の安全マージンを追加することも要求しています。これは、TMCS1100-Q1の 509 VRMSで 26 年の最小要求寿命に相当します。

図 8-1 に、デバイスの寿命全体にわたって高電圧ストレスに耐えることができる、絶縁バリアの固有能力を示します。この TDDB データによれば、これらのデバイスの固有能力は 424 VRMS、
の寿命は 100 年以上です。動作環境や汚染度などの他の要因により、最終システム内の部品の動作電圧がさらに制限される可能性があります。

TMCS1100-Q1 絶縁寿命図 8-1 絶縁寿命