JAJSLK5D October   2020  – May 2025 LMG3422R050 , LMG3426R050 , LMG3427R050

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 ピン構成および機能
  6. 5 仕様
    1. 5.1 絶対最大定格
    2. 5.2 ESD 定格
    3. 5.3 推奨動作条件
    4. 5.4 熱に関する情報
    5. 5.5 電気的特性
    6. 5.6 スイッチング特性
    7. 5.7 代表的特性
  7. 6 パラメータ測定情報
    1. 6.1 スイッチング パラメータ
      1. 6.1.1 ターンオン時間
      2. 6.1.2 ターンオフ時間
      3. 6.1.3 ドレインソース間のターンオン・スルーレート
      4. 6.1.4 ターンオンおよびターンオフのスイッチングエネルギー
      5. 6.1.5 ゼロ電圧検出時間（LMG3426R050のみ）
      6. 6.1.6 ゼロ電流検出時間（LMG3427R050のみ）
    2. 6.2 安全operation領域 (SOA)
      1. 6.2.1 反復的SOA
  8. 7 詳細説明
    1. 7.1 概要
    2. 7.2 機能ブロック図
      1. 7.2.1 LMG3422R050 機能ブロック図
      2. 7.2.2 LMG3426R050 機能ブロック図
      3. 7.2.3 LMG3427R050 機能ブロック図
    3. 7.3 機能説明
      1. 7.3.1  GaN FETのoperation定義
      2. 7.3.2  ディレクティブ駆動GaNアーキテクチャ
      3. 7.3.3  ドレインソース間電圧
      4. 7.3.4  内蔵型昇降圧DC/DCコンバータ
      5. 7.3.5  VDD バイアス電源
      6. 7.3.6  補助 LDO
      7. 7.3.7  フォルト保護
        1. 7.3.7.1 過電流保護および短絡保護
        2. 7.3.7.2 過熱時のシャットダウン保護
        3. 7.3.7.3 UVLO 保護
        4. 7.3.7.4 ハイ・インピーダンスのRDRVピン保護
        5. 7.3.7.5 障害通知
      8. 7.3.8  ドライブ-強度調整
      9. 7.3.9  温度検出出力
      10. 7.3.10 最適ダイオード・モード動作
        1. 7.3.10.1 過熱シャットダウンの理想ダイオードモード
      11. 7.3.11 ゼロ電圧検出（ZVD）（LMG3426R050のみ）
      12. 7.3.12 ゼロ電流検出（ZCD）（LMG3427R050のみ）
    4. 7.4 スタート-アップ・シーケンス
    5. 7.5 デバイスの機能モード
  9. 8 アプリケーションと実装
    1. 8.1 アプリケーション情報
    2. 8.2 代表的なアプリケーション
      1. 8.2.1 設計要件
      2. 8.2.2 詳細な設計手順
        1. 8.2.2.1 スルーレートの選択
        2. 8.2.2.2 信号レベル・シフト
        3. 8.2.2.3 昇降圧コンバータの設計
      3. 8.2.3 アプリケーション曲線
    3. 8.3 推奨事項と禁止事項
    4. 8.4 電源に関する推奨事項
      1. 8.4.1 絶縁型電源の使用
      2. 8.4.2 ブートストラップダイオードの使用
        1. 8.4.2.1 ダイオードの選択
        2. 8.4.2.2 ブートストラップ電圧の管理
    5. 8.5 レイアウト
      1. 8.5.1 レイアウトのガイドライン
        1. 8.5.1.1 半田接合に対する信頼
        2. 8.5.1.2 電力ループのインダクタンス
        3. 8.5.1.3 信号-グランド接続
        4. 8.5.1.4 バイパス コンデンサ
        5. 8.5.1.5 スイッチ・ノードの静電容量
        6. 8.5.1.6 シグナル インテグリティ
        7. 8.5.1.7 高電圧間隔
        8. 8.5.1.8 基板に関する推奨事項
      2. 8.5.2 レイアウト例
  10. 9 デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 9.1 ドキュメントのサポート
      1. 9.1.1 関連資料
    2. 9.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 9.3 サポート・リソース
    4. 9.4 商標
    5. 9.5 静電気放電に関する注意事項
    6. 9.6 Export Control Notice
    7. 9.7 用語集
  11. 10改訂履歴
  12. 11メカニカル、パッケージ、および注文情報

7.1 概要

LMG342xR050は、ゲート・ドライバが内蔵された高性能パワーGaNデバイスです。GaNデバイスは、ゼロ逆回復と超低出力キャパシタンスを実現し、ブリッジ・ベースのトポロジで効率のイネーブル ハイを実現します。ディレクティブ駆動アーキテクチャは、内蔵ゲートドライバによりGaNデバイスを直接制御するために適用されます。このアーキテクチャにより、従来のカスコード方式に比べて優れたスイッチング性能を発揮し、GaNアプリケーションの多数の課題を解決できます。

内蔵ドライバにより、の高いドレイン・スルーレートの場合に本デバイスを確実にオフに維持できます。内蔵ドライバは、過電流、短絡、過熱、VDD低電圧、ハイ・インピーダンスのRDRVピンからGaNデバイスを保護します。また、内蔵ドライバはダイ温度を検出し、変調されたPWM信号を介して温度信号を送出することもできます。LMG3426R050は、ゼロ電圧検出（ZVD）機能を備えており、ゼロ電圧スイッチング（ZVS）が発生したときZVDピンからパルスを出力します。LMG3427R050には、ドレインソース間の正電流が検出された際にZCDピンからパルス出力を提供するゼロ電流検出（ZCD）機能が含まれています。

Si MOSFETとは異なり、GaNデバイスにはソースからドレインへのp-n接合がないため、逆方向回復電荷がありません。ただし、GaNデバイスは依然として、p-n接合のボディ・ダイオードと同様にソースからドレインへ導通しますが、電圧降下が大きく、導通損失が大きくなります。したがって、LMG342xR050GaN FETがオフの間、ソースドレイン間導通時間を最小限に抑える必要があります。