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SN74LVC1G57

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Puerta de funciones múltiples configurables

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SN74LVC1G57

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Detalles del producto

Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 1 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-SC70 (DCK) 6 4.2 mm² (2 mm × 2.1 mm) SOT-5X3 (DRL) 6 2.56 mm² (1.6 mm × 1.6 mm) SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm) X2SON (DSF) 6 1 mm² (1 mm × 1 mm) USON (DRY) 6 1.45 mm² (1.45 mm × 1 mm) DSBGA (YZP) 6 2.1875 mm² (— mm × — mm)
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
    • Supports Down Translation to VCC
  • Max tpd of 6.3 ns at 3.3 V
  • Schmitt-Triggered Inputs
  • Low Power Consumption, 10-µA Maximum ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Ioff Supports Live Insertion, Partial-Power-Down Mode, and Back-Drive Protection
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • Available in the Texas Instruments NanoFree™ Package
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
    • Supports Down Translation to VCC
  • Max tpd of 6.3 ns at 3.3 V
  • Schmitt-Triggered Inputs
  • Low Power Consumption, 10-µA Maximum ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Ioff Supports Live Insertion, Partial-Power-Down Mode, and Back-Drive Protection
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • Available in the Texas Instruments NanoFree™ Package

The SN74LVC1G57 device features configurable multiple functions. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions AND, OR, NAND, NOR, XNOR, inverter, and buffer. All inputs can be connected to VCC or GND.

This device functions as an independent gate, but because of Schmitt action, it may have different input threshold levels for positive-going (VT+) and negative-going (VT–) signals.

This configurable multiple-function gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

The SN74LVC1G57 device features configurable multiple functions. The output state is determined by eight patterns of 3-bit input. The user can choose the logic functions AND, OR, NAND, NOR, XNOR, inverter, and buffer. All inputs can be connected to VCC or GND.

This device functions as an independent gate, but because of Schmitt action, it may have different input threshold levels for positive-going (VT+) and negative-going (VT–) signals.

This configurable multiple-function gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN74LVC1G57 Configurable Multiple-Function Gate datasheet (Rev. P) PDF | HTML 29/11/2016
Application brief Understanding Schmitt Triggers (Rev. B) PDF | HTML 17/04/2025
Application brief Utilizing Configurable Logic in System Design PDF | HTML 30/10/2024
Product overview Sequence Supplies With Simple Timers and Logic PDF | HTML 5/04/2023

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

5-8-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación de lógico genérico para encapsulados DCK, DCT, DCU, DRL y DBV,de 5- a 8-pines

EVM flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo que tenga un encapsulado DCK, DCT, DCU, DRL o DBV y entre 5 y 8 pines.
Guía del usuario: PDF
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Placa de evaluación

5-8-NL-LOGIC-EVM — EVM genérico de lógica y traducción compatible con paquetes DPW, DQE, DRY, DSF, DTM, DTQ y DTT de 5

EVM genérico diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de conversión que tenga un encapsulado DTT, DRY, DPW, DTM, DQE, DQM, DSF o DTQ. El diseño del tablero permite una evaluación flexible.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74LVC1G57 IBIS Model (Rev. A)

SCEM292 (241 KB) - Modelo IBIS
Productos y hardware compatibles
Diseño de referencia

TIDA-00225 — Capa de concentrador de datos para BeagleBone Black

Este diseño proporciona nuevas opciones de conectividad para los desarrolladores que trabajan con la plataforma BeagleBone Black. Permite a los desarrolladores trabajar con los módulos de comunicaciones de línea de alimentación (PLC) y radiofrecuencia de TI para desarrollar fácil y rápidamente (...)

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Diseño de referencia

TIDA-00826 — Diseño de referencia de extremo frontal del osciloscopio de 2 GHz de 50 ohmios

This reference design is part of an analog front-end for 50Ω-input oscilloscope application. System designers can readily use this evaluation platform to process input signals from DC to 2 GHz in both frequency-domain and time-domain applications.

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Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-SC70 (DCK) 6 Ultra Librarian
SOT-5X3 (DRL) 6 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian
X2SON (DSF) 6 Ultra Librarian
USON (DRY) 6 Ultra Librarian
DSBGA (YZP) 6 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Soporte y capacitación

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