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SN74HCT04-EP

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エンハンスド製品、TTL 互換 CMOS 入力、6 チャネル、4.5V ～ 5.5V インバータ

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SN74HCT04-EP

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製品詳細

Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 6 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 20 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 6 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 20 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Operating Voltage Range of 4.5 V to 5.5 V
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption, 20-µA Max ICC
  • Typical tpd = 13 ns
  • ±4-mA Output Drive at 5 V
  • Low Input Current of 1 µA Max
  • Inputs Are TTL_Voltage Compatible

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Operating Voltage Range of 4.5 V to 5.5 V
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption, 20-µA Max ICC
  • Typical tpd = 13 ns
  • ±4-mA Output Drive at 5 V
  • Low Input Current of 1 µA Max
  • Inputs Are TTL_Voltage Compatible

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This device contains six independent inverters. It performs the Boolean function Y = A\ in a positive logic.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* 放射線と信頼性レポート SN74HCT04IDREP Reliability Report 2013年 1月 7日
* データシート SN74HCT04-EP データシート 2004年 1月 6日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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