データシート
TMUX182-SEP
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- VID V62/26609-01XE
- 宇宙向け強化プラスチック
- 防衛および航空宇宙アプリケーションのサポート
- 動作温度範囲：-55℃～+125℃
- 管理されたベースライン
- Au (金) ボンド ワイヤと NiPdAu リード仕上げ
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
- モールド コンパウンドの改良による低いガス放出
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- 総吸収線量（TID）特性：30krad（Si）
- ウェハー ロットごとに 30krad (Si) までの累積線量耐性放射線ロット受け入れ(TID RLAT)
- シングル イベント効果 (SEE) 特性：
- シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 47MeV‑cm2/mg
- シングル イベント過渡 (SET) 特性レポートを利用可能
- 単電源電圧範囲：5V ～ 15V
- デュアル電源電圧範囲： 最大 ±6V
- 低い静電容量：3pF
- 双方向の信号パス
- レール ツー レール動作
- 1.8V ロジック互換
- ブレイク ビフォー メイクのスイッチング動作
- ESD 保護 (HBM)：2000V
TMUX182-SEP デバイスは、汎用の CMOS (相補型金属 酸化膜 半導体) マルチプレクサ (MUX) です。本デバイスは、単一電源 (5V ～ 15V)、デュアル電源 (最大 ±6V)、または非対称電源 (VDD = 6V、VSS = -3V など) で動作します。電源電圧範囲が広いため、宇宙分野における幅広いアプリケーションで使用できます。
TMUX182-SEP デバイスは、ソース (Sx) ピンおよびドレイン (Dx) ピンで、VSS から VDD までの範囲の双方向アナログ信号をサポートします。すべてのロジック入力のスレッショルドは 1.8V ロジック互換で、有効な電源電圧で動作していれば、TTL と CMOS の両方のロジックと互換性があります。
技術資料
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4 をすべて表示 | 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TMUX182-SEP 耐放射線特性、15V、8:1、1 チャネル マルチプレクサ、1.8V ロジック対応 データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 2026年 5月 27日 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | TMUX182-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2026年 4月 27日 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | TMUX182-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2026年 4月 27日 | |||
| * | 放射線と信頼性レポート | TMUX182-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2026年 4月 2日 |
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
16DYYPWEVM — SOT-23 THIN (DYY) および TSSOP (PW) パッケージ用テストボード
16DYYPWEVM テスト ボードは、SOT-23 THIN (DYY) と TSSOP (PW) 両方のパッケージに対応する、2 つのフットプリントを確保しています。 このテスト ボードは、16 ピンの SOT-23 THIN (DYY) と TSSOP (PW) の各パッケージに封止した IC の迅速なプロトタイプ製作とテストに使用できます。
ユーザー ガイド: PDF
評価ボード
TMUXBQB-DYYEVM — 16 ピン BQB、DYY、PW パッケージ向け、汎用 TMUX の評価基板
TMUXBQB-DYYEVM を使用すると、16 ピン TSSOP (PW)、WQFN (BQB)、SOT-23 THIN (DYY) の各パッケージを使用する、TI の TMUX 製品ラインアップのプロトタイプ製作と DC 特性評価を迅速に実施できます。
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-23-THN (DYY) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブ拠点
- アセンブリ拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。