TMUX154E
- VCC Operation at 3 V to 4.3 V
- I/O Pins Can Tolerate up to 5.25 V
- 1.8-V Compatible Control Logic
- Supports Powered-off Protection I/O Pins Hi-Z When VCC = 0 V
- RON = 10 Ω Maximum
- ΔRON = 0.35 Ω Typical
- Cio(ON) = 7.5 pF Typical
- Low Power Consumption (1 uA Maximum)
- –3-dB Bandwidth = 900 MHz Typical
- Latch-Up Performance Exceeds
100 mA Per JESD 78, Class II (1) - ESD Performance Tested Per JESD 22
- 8000-V Human-Body Model
(A114-B, Class II) - 1000-V Charged-Device Model (C101)
- 8000-V Human-Body Model
- ESD Performance I/O Port to GND (2)
- 15000-V Human-Body Model
(1)Except EN and SEL Inputs
(2)High-voltage HBM is performed in addition to the standard HBM testing (A114-B, Class II) and applies to I/O ports tested with respect to GND only.
The TMUX154E is a high-bandwidth 2:1 switch specially designed for the switching of high-speed signals in applications with limited I/Os. The wide bandwidth (900 MHz) of this switch allows signals to pass with minimum edge and phase distortion. The switch is bidirectional and offers little or no attenuation of high-speed signals. It is designed for low bit-to-bit skew and high channel-to-channel noise isolation.
The TMUX154E integrates ESD protection cells on all pins, is available in a tiny UQFN package (1.8 mm × 1.4 mm) or a VSSOP package, and is characterized over the free-air temperature range of –40°C to 85°C.
기술 자료
설계 및 개발
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AM261-SOM-EVM — AM261x 제어 시스템 온 모듈 평가 모듈(EVM)
AM261-SOM-EVM은 텍사스 인스트루먼트 Sitara™ AM261x 마이크로컨트롤러(MCU) 시리즈용 평가 및 개발 보드입니다. 120핀 고속, 고밀도 커넥터 3개를 갖춘 시스템 온 모듈 설계는 초기 평가 및 신속한 프로토타입 개발에 이상적입니다. AM261-SOM-EVM을 사용한 평가에 XDS110ISO-EVM이 필요하며 별도로 구매할 수 있습니다.
HSEC180ADAPEVM-AM2 — AM261x SOM(시스템 온 모듈) 평가 모듈(EVM)용 HSEC180 어댑터 보드
이 평가 모듈(EVM)은 TI AM261x SOM(시스템 온 모듈) 플랫폼용 180핀 HSEC(고속 에지 카드) 어댑터로, SOM 기반 플랫폼이 Sitara™/C2000™ HSEC 기반 EVM과 역호환성을 가질 수 있도록 합니다. HSEC180ADAPEVM-AM2은 TMDSHSECDOCK-AM263 및 TMDSHSECDOCK 같은 레거시 Sitara/C2000 HSEC 도킹 스테이션과 함께 사용할 수 있도록 SOM 보드의 180핀을 HSEC 핀에 연결합니다.
LEADED-ADAPTER1 — TI의 5, 8, 10, 16 및 24핀 리드 패키지의 빠른 테스트를 위한 DIP 헤더 어댑터에 대한 표면 실장
EVM-LEADED1 보드를 사용하면 TI의 공통 리드가 있는 패키지를 브레드보드 방식으로 빠르게 테스트할 수 있습니다. 이 보드에는 TI의 D, DBQ, DCT, DCU, DDF, DGS, DGV 및 PW 표면 실장 패키지를 100mil DIP 헤더로 변환할 수 있는 풋프린트가 있습니다.
LEADLESS-ADAPTER1 — TI의 6, 8, 10, 12, 14, 16 및 20핀 리드 없는 패키지의 테스트를 위한 DIP 헤더 어댑터에 대한 표면 실장
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| UQFN (RSW) | 10 | Ultra Librarian |
| VSSOP (DGS) | 10 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.