전력 관리 시퀀서

TPS7H3014-SP

활성

Radiation-hardened, QML-V, 14V four channel power-supply sequencer

제품 상세 정보

Number of supplies monitored 4 Number of sequenced outputs 4 Rating Space Iq (typ) (mA) 2.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of supplies monitored 4 Number of sequenced outputs 4 Rating Space Iq (typ) (mA) 2.5 Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (HFT) 22 60.221856 mm² (6.211 mm × 9.696 mm)
  • Radiation performance:
    • Radiation hardness assurance (RHA) up to a total ionizing dose (TID) of 100 krad(Si) for the QML’s and 50 krad(Si) for the SEP
    • Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy transfer (LET) = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
    • Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized up to LET = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
  • Wide supply IN voltage range (VIN): 3V to 14V
  • Sequence and monitor up to 4 voltage rails with a single device
    • Daisy chain capability for extended channel count
  • Single resistor programmable global timers for:
    • Sequence up and down delay
    • Sequence up time to regulation
  • Reverse order sequence down
  • Precision threshold voltage and hysteresis current
    • VTH_SENSEx of 599mV ±1% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
    • IHYS_SENSEx of 24µA ±3% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
  • Push-pull outputs with programmable pull-up voltage between 1.6V to 7V
    • Global ENx pull-up domain (VPULL_UP1)
    • Common SEQ_DONE and PWRGD pull-up domain (VPULL_UP2)
  • FAULT open drain output for monitoring of state machine induced faults
  • Plastic packages outgas tested per ASTM E595

  • Available in military (–55°C to 125°C) temperature range
  • Radiation performance:
    • Radiation hardness assurance (RHA) up to a total ionizing dose (TID) of 100 krad(Si) for the QML’s and 50 krad(Si) for the SEP
    • Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune up to linear energy transfer (LET) = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
    • Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized up to LET = 75 MeV-cm2/mg for the QML’s and 43 MeV-cm2/mg for the SEP
  • Wide supply IN voltage range (VIN): 3V to 14V
  • Sequence and monitor up to 4 voltage rails with a single device
    • Daisy chain capability for extended channel count
  • Single resistor programmable global timers for:
    • Sequence up and down delay
    • Sequence up time to regulation
  • Reverse order sequence down
  • Precision threshold voltage and hysteresis current
    • VTH_SENSEx of 599mV ±1% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
    • IHYS_SENSEx of 24µA ±3% across: voltage, temperature, and radiation (TID)
  • Push-pull outputs with programmable pull-up voltage between 1.6V to 7V
    • Global ENx pull-up domain (VPULL_UP1)
    • Common SEQ_DONE and PWRGD pull-up domain (VPULL_UP2)
  • FAULT open drain output for monitoring of state machine induced faults
  • Plastic packages outgas tested per ASTM E595

  • Available in military (–55°C to 125°C) temperature range

The TPS7H3014 is an integrated, 3V to 14V, four-channel radiation-hardness-assured power-supply sequencer. Channel count can be expanded by connecting multiple devices in a daisy-chain configuration. The device provides sequence up and down control signals for integrated circuits (IC) with active high ("on") inputs. In addition SEQ_DONE and PWRGD flags are provided to monitor the sequence and power status of the monitored power tree.

An accurate 599mV ±1% threshold voltage and a 24µA ±3% hysteresis current provide programmable rise and fall monitoring voltages. The rise and fall delay time is globally programmed via a single resistor. Also, a time-to-regulation timer is provided to track the rising voltage on SENSEx. In addition to these features, a FAULT detection pin is incorporated to monitor internally generated faults and provide increased system level reliability for power sequencing space applications. A standard microcircuit drawing (SMD) is available for the QML variant, 5962R2320101VXC.

The TPS7H3014 is an integrated, 3V to 14V, four-channel radiation-hardness-assured power-supply sequencer. Channel count can be expanded by connecting multiple devices in a daisy-chain configuration. The device provides sequence up and down control signals for integrated circuits (IC) with active high ("on") inputs. In addition SEQ_DONE and PWRGD flags are provided to monitor the sequence and power status of the monitored power tree.

An accurate 599mV ±1% threshold voltage and a 24µA ±3% hysteresis current provide programmable rise and fall monitoring voltages. The rise and fall delay time is globally programmed via a single resistor. Also, a time-to-regulation timer is provided to track the rising voltage on SENSEx. In addition to these features, a FAULT detection pin is incorporated to monitor internally generated faults and provide increased system level reliability for power sequencing space applications. A standard microcircuit drawing (SMD) is available for the QML variant, 5962R2320101VXC.

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기술 자료

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* 데이터 시트 TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP Radiation-Hardened, 14V, 4-Channel Sequencer datasheet (Rev. D) PDF | HTML 2025. 7. 27
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) 2026. 7. 29
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H3014-SP Single-Event Effects (SEE) PDF | HTML 2024. 6. 12
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H3014-SP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization Report 2024. 4. 4
* SMD TPS7H3014-SP SMD 5962-23201 2024. 6. 20
선택 가이드 TI Space Products (Rev. L) 2026. 3. 27
애플리케이션 노트 Hermetic Package Reflow Profiles, Termination Finishes, and Lead Trim and Form (Rev. A) PDF | HTML 2025. 11. 5
Application brief DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. C) PDF | HTML 2025. 6. 17
애플리케이션 노트 Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. B) PDF | HTML 2025. 6. 10
추가 자료 TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. B) 2025. 2. 20
애플리케이션 노트 QML flow, its importance, and obtaining lot information (Rev. C) 2023. 8. 30
애플리케이션 노트 Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) PDF | HTML 2022. 10. 19
애플리케이션 노트 DLA Standard Microcircuit Drawings (SMD) and JAN Part Numbers Primer 2020. 8. 21
e북 Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019. 5. 21

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

TPS7H3014EVM-CVAL — TPS7H3014-SP 평가 모듈

TPS7H3014EVM-CVAL은 단일 TPS7H3014-SP 시퀀서의 작동을 보여줍니다. 이 보드는 데이지 체인 시퀀서와 같은 사용자 지정 구성을 테스트할 수 있는 추가 부품으로 채울 수 있는 풋프린트를 제공합니다.
사용 설명서: PDF | HTML
지원되는 제품 및 하드웨어
재고 있음
제한:
??asset.out-of-stock-ti_ko_KR??
이용할 수 없음
평가 보드

ALPHA-3P-VB630-SPACE-AMD — AMD Versal 에지 XQRVE2302 ACAP 및 TI 방사선 내성 제품을 사용하는 Alpha Data ADM-VB630 키트

AMD-Xilinx® Versal AI Edge XQRVE2302 적응형 SoC/FPGA를 강조하는 3U VPX 폼 팩터입니다. ADM-VB630은 싱글 보드 컴퓨터입니다. 대부분의 구성 요소는 방사능 내성 전원 관리, 인터페이스 및 감지(-SEP) 포트폴리오입니다.

지원되는 제품 및 하드웨어
시뮬레이션 모델

TPS7H3014-SP and TPS7H3014-SEP PSpice Transient Model

SNVMCF1.ZIP (72 KB) - PSpice 모델
지원되는 제품 및 하드웨어
레퍼런스 디자인

TIDA-050088 — Versal AI Edge용 방사능 내성 전원 레퍼런스 설계

AMD의 Versal™ AI Edge XQRVE2302를 위한 방사능 내성 전원 아키텍처 레퍼런스 설계입니다. Versal Edge는 소형 폼 팩터에서 높은 수준의 성능을 구현하는 우주 응용 분야를 위한 채택형 SoC(시스템 온 칩)입니다. 우주 환경에서 이 설계를 완전하게 활용하려면 견고한 전원 공급이 필수적입니다. 이 전원 설계에는 레일을 올바르게 주문하고 모니터링하기 위한 시퀀서와 함께 다양한 레일에 전원을 공급하는 여러 장치가 포함되어 있습니다.
지원되는 제품 및 하드웨어
패키지 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
CFP (HFT) 22 Ultra Librarian

주문 및 품질

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

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