En esta guía de referencia, se describe un subsistema de desconexión segura de par (STO) para un inversor trifásico con controladores de compuertas IGBT aislados de entrada CMOS. El subsistema de desconexión segura del par emplea una arquitectura de doble canal (1oo2) con una tolerancia de fallo de hardware de 1 (HFT=1). Se implementa siguiendo un concepto de desconexión por corte de tensión. Cuando las entradas de desconexión segura del par dobles (STO_1 y STO_2) se activan bajo, las fuentes de alimentación correspondientes del lado principal y secundario de los seis controladores de compuerta aislados de transistores bipolares de compuerta aislada se cortan a través de interruptores de carga. Esto elimina la posibilidad de controlar y energizar el motor. El diseño de referencia de desconexión segura del par (1oo2) fue evaluado por TÜV SÜD para ser generalmente adecuado para SIL 3 y PL e/Cat. 3.
Funciones
- Arquitectura de desconexión segura del par de doble canal (1oo2) evaluada por TÜV SÜD como apta para SIL 3 (IEC 61508) y PL e/Cat. 3 (ISO 13849)
- El informe de TÜV, la descripción del concepto de seguridad y el sistema cualitativo FMEA están disponibles para ayudar aún más a los diseñadores a implementar el subsistema de desconexión segura del par
- Subsistema de desconexión segura del par para inversores trifásicos con controladores de compuerta aislados de transistor bipolar de compuerta aislada de entrada de semiconductores complementarios de óxido metálico (CMOS) como ISO5852S, UCC21750 o UCC5350
- Receptores de entrada aislados de 24 V compatibles con ISO1211 según IEC 61131-2 y tolerancia de entrada de ± 60 V con protección contra inversión de polaridad
- Interfaz con microcontrolador (SIL 1) para cobertura de diagnóstico de los interruptores de carga en los subsistemas de desconexión segura del par
- Opción de monitorizar la alimentación de entrada y salida con bloqueo por baja tensión del ISO5852S a través del pin RDY y capacidades de monitorización adicionales con el sensor aislado analógico a modulación por ancho de impulsos integrado UCC21750.