9 改訂履歴
Changes from Revision G (August 2024) to Revision H (June 2025)
- MOSFET の値を 13.5mΩ および 4.5mΩ から 7.8mΩ および 3.2mΩ に変更Go
- 「機能」リストに WEBENCH リンクを追加Go
- デバイスの最新データを含むように図 3-1図を更新Go
- RDS(on)H を 13.5mΩ から 7.8mΩ に、RDS(on)L を 4.5mΩ から 3.2mΩ に、tUVPEN のヒカップ時間を 7 サイクルから 14 サイクルに更新Go
- IIN の代表値を 600μA から 146μA に変更し、IIN 最大値を削除Go
- IVINSDN の代表値を 7μA から 9.3μA に変更Go
- VPGOODTH VFB の立ち下がり (良好) 値を 107% から 108% に変更Go
- VUVP の値を 68% から 70% に変更Go
- UVLO VREG5 立ち上がり電圧値を 4.3V から 4.25V に変更Go
- UVLO VREG5 立ち下がり電圧値を 3.57V から 3.52V に変更Go
- UVLO VREG5 = 4.7V の VIN 立ち下がり電圧 (VREG5 = 4.7V) の値を 3.26V から 3.24V に変更Go
- UVLO VREG5 = 4.7V の VIN ヒステリシス (VREG5 = 4.7V) の値を 60mV から 80mV に変更Go
- tON の最小値を 54ns から 60ns に変更Go
- tSS の値を 1.045ms から 1.2ms に変更Go
- デバイスの最新データを反映するため、図 5-9を 図 5-34に更新Go
- ハイサイド RDS (ON) と温度の関係、およびローサイド RDS (ON) と温度の関係の図を削除Go
- MOSFET の値を 13.5mΩ から 7.8mΩ に、4.5mΩ から 3.2mΩ に変更Go
-
表 6-1の「ゼロ位置」の値を 7.1 から 17.8、14.3 から 27.1、21.4 から 29.8 に変更Go
- 待機時間を 1ms から 1 × tSS に、ヒカップ時間を 7ms から 14 × tSS に変更Go
- 「過渡応答の強化」セクションを追加
Go
- 「WEBENCH® ツールを使用したカスタム設計」セクションを追加Go
- デバイスの最新データを含めるように
アプリケーション曲線を更新
Go
- 「WEBENCH® ツールを使用したカスタム設計」セクションを追加Go
Changes from Revision F (August 2023) to Revision G (August 2024)
- 製品ラインアップを更新し、説明を「テキサス・インスツルメンツ最小」から「小型」に変更。Go
- TSDN VREG5 仕様を削除Go
- SW オン時間パラメータに「設計値」の注を追加Go
- 「境界外動作」セクションを削除Go
-
サーマル シャットダウンセクションを更新Go