JAJSPU3A May 2024 – July 2025 INA791A
PRODUCTION DATA
電流がデバイスを流れるときにパッケージ全体で放散される熱によって、パッケージが安全に処理できる最大電流が最終的に決まります。シリコンの消費電流は比較的小さいため、パッケージの総消費電力に最も寄与するのがパッケージの総消費電力に一次的に高負荷電流を流すようにパッケージの合計抵抗が残ります。図 6-2に示す最大安全動作電流レベルは、パッケージ全体での熱放散が制限され、抵抗器またはパッケージに損傷が発生しないように、またはシリコンの内部接合温度が 165°C の制限を超えないように設定されています。
周囲温度、外部エアフロー、PCB レイアウトなどの外部要因が、デバイスの熱放散方に寄与します。内部の熱は、パッケージ抵抗全体が 550μΩ を流れる電流の結果として発生します。