JAJU578C July 2018 – March 2021 TPS274160
3.2.2.4 残留電圧
テスト ケース TCM_PHYL_INTF_IQPKHM は、ウェイクアップ パルス中に IO-Link PHY のハイサイドで発生する電圧降下を検証します。したがって、CQ ラインに 26Ω の負荷がかかり、ウェークアップ パルスが生成されます。このテストに合格するには、CQ ラインの電圧が 13V を超える必要があります。このテストは、20V と 30V の L+ 電圧で行います。
図 3-8 テストケース TCM_PHYL_INTF_IQPKHM：ウェークアップ電流ハイサイド –20V L+ の結果、17.4V
図 3-9 テストケース TCM_PHYL_INTF_IQPKHM：ウェークアップ電流ハイサイド –30V L+ の結果、26.4V図 3-9と図 3-8に示すように、電圧は 13V を超えているため、ハイサイド ドライバのテストに合格しました。
次の関連するテスト ケースは TCM_PHYL_INTF_IQPKLM です。このテストは以前と類似していますが、ローサイド スイッチをテストしています。したがって、負荷は L+ 電圧が 20V の場合は 24Ω、30 V の場合は 44Ω となります。ローサイドを試験するためには、抵抗を L+ と CQ の間に接続する必要があります。このテストに合格するには、電圧が 8V 未満である必要があります。
図 3-10 テストケース TCM_PHYL_INTF_IQPKLM：ウェークアップ電流ローサイド – 20V L+ の結果、2V
図 3-11 テストケース TCM_PHYL_INTF_IQPKLM：ウェークアップ電流ローサイド – 30V L+ の結果、2Vそのため、ウェークアップ パルス中に電流能力に関するすべてのテストに合格しています。