Startseite Datenwandler Integrierte & Spezialfunktions-Datenwandler Integrierte Präzisions-ADCs und -DACs
Startseite
Datenwandler
Integrierte & Spezialfunktions-Datenwandler
Integrierte Präzisions-ADCs und -DACs

AFE11612-SEP

AKTIV

Strahlungstolerantes analoges 12-Bit-Frontend mit Temperatursensoren und 12 DAC- und 16 ADC-Kanälen

Jetzt bestellen
Datenblatt

AFE11612-SEP

AKTIV
Datenblatt Jetzt bestellen

Produktdetails

Number of ADC channels 16 ADC resolution (Bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
Number of ADC channels 16 ADC resolution (Bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
HTQFP (PAP) 64 144 mm² 12 x 12
  • Radiation tolerant:
    • Single-event latch-up (SEL) immune up to LET = 43 MeV-cm 2/mg at 125°C
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized up to LET = 43 MeV-cm 2/mg
    • Total ionizing dose (TID) RLAT/RHA characterized up to 20 krad(Si)
  • Space-enhanced plastic (space EP):
    • Meets ASTM E595 outgassing specification
    • Vendor item drawing (VID) V62/22614
    • Military temperature range: –55°C to +125°C
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Gold bond wire, NiPdAu lead finish
    • Wafer lot traceability
    • Extended product life cycle
  • 12 monotonic, 12-bit DACs
    • 0 V to 5 V output range
    • DAC shutdown to user-defined level
  • 16 input, 12-bit SAR ADC
    • High sample rate: 500 kSPS
    • 16 single-ended inputs or 2 differential and 12 single-ended inputs
    • Programmable out-of-range alarms
  • Eight GPIO pins
  • Internal 2.5-V reference
  • Two remote temperature sensors
  • Internal temperature sensor
  • Configurable SPI and I 2C interface
    • 2.7-V to 5.5-V operation
  • Radiation tolerant:
    • Single-event latch-up (SEL) immune up to LET = 43 MeV-cm 2/mg at 125°C
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized up to LET = 43 MeV-cm 2/mg
    • Total ionizing dose (TID) RLAT/RHA characterized up to 20 krad(Si)
  • Space-enhanced plastic (space EP):
    • Meets ASTM E595 outgassing specification
    • Vendor item drawing (VID) V62/22614
    • Military temperature range: –55°C to +125°C
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Gold bond wire, NiPdAu lead finish
    • Wafer lot traceability
    • Extended product life cycle
  • 12 monotonic, 12-bit DACs
    • 0 V to 5 V output range
    • DAC shutdown to user-defined level
  • 16 input, 12-bit SAR ADC
    • High sample rate: 500 kSPS
    • 16 single-ended inputs or 2 differential and 12 single-ended inputs
    • Programmable out-of-range alarms
  • Eight GPIO pins
  • Internal 2.5-V reference
  • Two remote temperature sensors
  • Internal temperature sensor
  • Configurable SPI and I 2C interface
    • 2.7-V to 5.5-V operation

The AFE11612-SEP is a highly integrated analog monitor and control device designed for high-density, general-purpose monitor and control systems. The device includes 12 12-bit digital-to-analog converters (DACs) and a 16-channel, 12-bit, analog-to-digital converter (ADC). The device also incorporates eight general-purpose inputs and outputs (GPIOs), two remote temperature sensor channels, and a local temperature sensor channel.

The device has an internal 2.5-V reference that sets the DAC to an output voltage range of 0 V to 5 V. The device also supports operation from an external reference. The device supports communication through both SPI-compatible and I 2C-compatible interfaces.

The device high level of integration significantly reduces component count and simplifies closed-loop system design, thus making the device a great choice for high-density applications where radiation-tolerance and board space are critical.

The AFE11612-SEP is a highly integrated analog monitor and control device designed for high-density, general-purpose monitor and control systems. The device includes 12 12-bit digital-to-analog converters (DACs) and a 16-channel, 12-bit, analog-to-digital converter (ADC). The device also incorporates eight general-purpose inputs and outputs (GPIOs), two remote temperature sensor channels, and a local temperature sensor channel.

The device has an internal 2.5-V reference that sets the DAC to an output voltage range of 0 V to 5 V. The device also supports operation from an external reference. The device supports communication through both SPI-compatible and I 2C-compatible interfaces.

The device high level of integration significantly reduces component count and simplifies closed-loop system design, thus making the device a great choice for high-density applications where radiation-tolerance and board space are critical.
open-in-new Andere Integrierte Präzisions-ADCs und -DACs suchen
Herunterladen Video mit Transkript ansehen Video
„Informationen“

Weitere Informationen anfordern

Das vollständige Datenblatt ist verfügbar. Jetzt anfordern

Ähnliche Produkte, die für Sie interessant sein könnten

open-in-new Alternativen vergleichen
Ähnliche Funktionalität wie verglichener Baustein
NEU AFE20408 AKTIV 8-Kanal-Leistungsverstärker-Monitor und -Controller mit Ausgangsschaltern und Stromsensoren Bipolar output range and integrated current-shunt monitor

Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
Keine Ergebnisse gefunden. Bitte geben Sie einen anderen Begriff ein und versuchen Sie es erneut.
Alle anzeigen 8
Typ Titel Datum
* Data sheet AFE11612-SEP Radiation-Tolerant, Analog Monitor and Controller With Multichannel ADC, DACs, and Temperature Sensors datasheet (Rev. A) PDF | HTML 15 Sep 2023
* Radiation & reliability report AFE11612-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report (Rev. A) 01 Sep 2023
* Radiation & reliability report AFE11612-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) 26 Jan 2023
* Radiation & reliability report AFE11612-SEP Reliability and Production Flow Chart (Rev. A) PDF | HTML 23 Dez 2022
Application note Laser Biasing and Optical Communication Applications with the AFE11612-SEP PDF | HTML 30 Aug 2023
Application note Biasing GaN and LDMOS RF Power Amplifiers in Aerospace Apps Using AFE11612-SEP PDF | HTML 29 Jun 2023
EVM User's guide AFE11612EVM User's Guide PDF | HTML 14 Mär 2023
Certificate AFE11612EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) 01 Feb 2023

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

AFE11612EVM — SEP-Evaluierungsmodul AFE11612 für 12-Bit-Analog-Frontend (AFE) mit Temperatursensoren

Das AFE11612EVM ist eine benutzerfreundliche Plattform, welche die Funktionalität und Leistung des AFE11612-SEP evaluiert. Das AFE11612‑SEP ist ein hochintegrierter, energieeffizienter und komplett analoger Monitor und Controller mit einem 16-kanaligen (12-Bit) Analog-Digital-Wandler (ADC), einem (...)

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Anfordern
Simulationstool

PSPICE-FOR-TI — PSpice® für TI Design-und Simulationstool

PSpice® für TI ist eine Design- und Simulationsumgebung, welche Sie dabei unterstützt, die Funktionalität analoger Schaltungen zu evaluieren. Diese voll ausgestattete Design- und Simulationssuite verwendet eine analoge Analyse-Engine von Cadence®. PSpice für TI ist kostenlos erhältlich und (...)
Anfordern
Gehäuse Pins Herunterladen
HTQFP (PAP) 64 Optionen anzeigen
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Empfohlene Produkte können Parameter, Evaluierungsmodule oder Referenzdesigns zu diesem TI-Produkt beinhalten.

Support und Schulungen

TI E2E™-Foren mit technischem Support von TI-Ingenieuren

Alle Forenthemen auf Englisch anzeigen

Inhalte werden ohne Gewähr von TI und der Community bereitgestellt. Sie stellen keine Spezifikationen von TI dar. Siehe Nutzungsbedingungen.

Bei Fragen zu den Themen Qualität, Gehäuse oder Bestellung von TI-Produkten siehe TI-Support. ​​​​​​​​​​​​​​

Videos