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CD4011UB

ACTIVO

Puertas NAND de 4 canales, 2 entradas, 3 V a 18 V

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CD4011UB

ACTIVO
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Detalles del producto

Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 8 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Propagation delay time = 30 ns (typ). at CL = 50 pF, VDD = 10 V
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package temperature range; 100nA at 18 V and 25°C
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor
  • Propagation delay time = 30 ns (typ). at CL = 50 pF, VDD = 10 V
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package temperature range; 100nA at 18 V and 25°C
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

CD4011UB quad 2-input NAND gate provides the system designer with direct implementation of the NAND function and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4011UB types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline package (M, MT, M96, NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4011UB quad 2-input NAND gate provides the system designer with direct implementation of the NAND function and supplements the existing family of CMOS gates.

The CD4011UB types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline package (M, MT, M96, NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Tipo Título Fecha
* Data sheet CD4011UB TYPES datasheet (Rev. D) 21 ago 2003
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 12 jun 2017
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 02 dic 2015
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 16 ene 2007
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 08 jul 2004
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 14 nov 2003
Application note Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 03 dic 2001

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
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Paquete Pasadores Descargar
PDIP (N) 14 Ver opciones
SOIC (D) 14 Ver opciones
SOP (NS) 14 Ver opciones
TSSOP (PW) 14 Ver opciones
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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