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SN54SC245-SEP

ACTIVO

Radiation-tolerant, 1.2V to 5.5V, octal bus transceiver with 3-state outputs

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SN54SC245-SEP

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Detalles del producto

Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² (6.5 mm × 6.4 mm)
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
  • Vendor item drawing available, VID V62/23616
  • Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
    • Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
    • Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
  • Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
  • 5.5 V tolerant input pins
  • Output drive up to 25 mA at 5-V
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Space enhanced plastic (SEP)
    • Controlled baseline
    • Gold bondwire
    • NiPdAu lead finish
    • One assembly and test site
    • One fabrication site
    • Military (–55°C to 125°C) temperature range
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification

SN54SC245-SEP is an octal bus transceiver with 3-state outputs. All eight channels are controlled by the direction (DIR) pin and output enable ( OE) pin. The output enable ( OE) controls all outputs in the device. When the OE pin is in the low state, the appropriate outputs as determined by the direction (DIR) pin are enabled. When the OE pin is in the high state, all outputs of the device are disabled. All disabled outputs are placed into the high-impedance state.

SN54SC245-SEP is an octal bus transceiver with 3-state outputs. All eight channels are controlled by the direction (DIR) pin and output enable ( OE) pin. The output enable ( OE) controls all outputs in the device. When the OE pin is in the low state, the appropriate outputs as determined by the direction (DIR) pin are enabled. When the OE pin is in the high state, all outputs of the device are disabled. All disabled outputs are placed into the high-impedance state.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos SN54SC245-SEP Radiation-Tolerant, 1.2-V to 5.5-V, Octal Bus TransceiversWith 3-State Outputs datasheet PDF | HTML 23/08/2023
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 17/10/2023
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC245-SEP Reliability Report PDF | HTML 23/08/2023
* Informe de radiación y confiabilidad SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 16/08/2023
Application brief TI Space Enhanced Plastic Logic Overview and Applications in Low-Earth Orbit Satellite Platforms PDF | HTML 10/09/2024

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
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Pedidos y calidad

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