AFE11612-SEP
- Radiation tolerant:
- Single-event latch-up (SEL) immune up to LET = 43 MeV-cm 2/mg at 125°C
- Single-event functional interrupt (SEFI) characterized up to LET = 43 MeV-cm 2/mg
- Total ionizing dose (TID) RLAT/RHA characterized up to 20 krad(Si)
- Space-enhanced plastic (space EP):
- Meets ASTM E595 outgassing specification
- Vendor item drawing (VID) V62/22614
- Military temperature range: –55°C to +125°C
- One fabrication, assembly, and test site
- Gold bond wire, NiPdAu lead finish
- Wafer lot traceability
- Extended product life cycle
- 12 monotonic, 12-bit DACs
- 0 V to 5 V output range
- DAC shutdown to user-defined level
- 16 input, 12-bit SAR ADC
- High sample rate: 500 kSPS
- 16 single-ended inputs or 2 differential and 12 single-ended inputs
- Programmable out-of-range alarms
- Eight GPIO pins
- Internal 2.5-V reference
- Two remote temperature sensors
- Internal temperature sensor
- Configurable SPI and I 2C interface
- 2.7-V to 5.5-V operation
The AFE11612-SEP is a highly integrated analog monitor and control device designed for high-density, general-purpose monitor and control systems. The device includes 12 12-bit digital-to-analog converters (DACs) and a 16-channel, 12-bit, analog-to-digital converter (ADC). The device also incorporates eight general-purpose inputs and outputs (GPIOs), two remote temperature sensor channels, and a local temperature sensor channel.
The device has an internal 2.5-V reference that sets the DAC to an output voltage range of 0 V to 5 V. The device also supports operation from an external reference. The device supports communication through both SPI-compatible and I 2C-compatible interfaces.
The device high level of integration significantly reduces component count and simplifies closed-loop system design, thus making the device a great choice for high-density applications where radiation-tolerance and board space are critical.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | AFE11612-SEP Radiation-Tolerant, Analog Monitor and Controller With Multichannel ADC, DACs, and Temperature Sensors datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023/09/15 |
* | Radiation & reliability report | AFE11612-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report (Rev. A) | 2023/09/01 | |
* | Radiation & reliability report | AFE11612-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) | 2023/01/26 | |
* | Radiation & reliability report | AFE11612-SEP Reliability and Production Flow Chart (Rev. A) | PDF | HTML | 2022/12/23 |
Application note | Laser Biasing and Optical Communication Applications With the AFE11612-SEP (Rev. A) | PDF | HTML | 2024/07/23 | |
EVM User's guide | AFE11612 Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2024/06/03 | |
Certificate | AFE11612EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) | 2023/02/01 |
설계 및 개발
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AFE11612EVM은 AFE11612-SEP 장치의 기능과 성능을 평가하는 사용하기 쉬운 플랫폼입니다. AFE11612-SEP는 고집적, 저전력, 완전한 아날로그 모니터 및 컨트롤러로, 16채널(12비트) 아날로그-디지털 컨버터(ADC), 12채널(12비트) 디지털-아날로그 컨버터(DAC), 8개의 GPIO, 2개의 원격 온도 센서 채널 및 1개의 로컬 온도 센서 채널이 포함됩니다. 또한 이 장치는 입력 범위 이탈 경보, 5V 및 3V 로직을 지원하는 SPI 및 I2C 프로토콜을 지원하는 구성 가능한 직렬 인터페이스를 제공합니다.
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HTQFP (PAP) | 64 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
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