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AFE2256

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디지털 엑스레이, 평판 감지기용 256채널 아날로그 프론트 엔드(AFE)

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신규 AFE3256 활성 동적 및 반동적 X-선 평판 패널 감지기용 256채널 아날로그 프론트 엔드(AFE) Higher integration, fast scan time

AFE2256

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제품 상세 정보

Number of input channels 256 Resolution (bps) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (bps) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

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3개 모두 보기
유형 직함 날짜
* Data sheet AFE2256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. C) PDF | HTML 2023/12/13
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 2022/03/18
Technical article Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 2017/03/28

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

AFE2256EVM — AFE2256 디지털 엑스레이 평판 감지기용 256채널 AFE 평가 모듈

AFE2256EVM은 256채널 아날로그 프론트 엔드인 AFE2256 COF를 평가하기 위한 초소형 USB 기반 평가 키트입니다. 이 EVM에는 DAC 및 전력 생성 온보드에 포함되어 있어 외부 장비에 대한 의존도를 크게 줄일 수 있습니다. 이 키트는 EVM과 3개의 개별 COF 어댑터로 구성되어 있으며 COF 장치의 성능을 평가할 수 있는 사용하기 쉬운 소프트웨어입니다. COF 어댑터는 탈착식이므로 단일 EVM 설정을 사용하여 여러 COF 어댑터를 평가할 수 있습니다. USB 2.0 인터페이스는 MCU를 통한 빠른 구성 다운로드 (...)

사용 설명서: PDF
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시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
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패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
COF (TBN) 325 Ultra Librarian
COF (TDR) 325 Ultra Librarian
COF (TDU) 320 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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