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ADC12DJ3200QML-SP

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ADC, strahlungshärtegesichert (RHA), QMLV, 300 krad, keramisch, 12 Bit, 3,2 GSPS zweifach oder 6,4 G

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ADC12DJ3200QML-SP

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Produktdetails

Sample rate (max) (Msps) 3200, 6400 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1, 2 Interface type JESD204B Analog input BW (MHz) 7300 Features Ultra High Speed Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 0.8 Power consumption (typ) (mW) 3000 Architecture Folding Interpolating SNR (dB) 57.2 ENOB (bit) 8.9 SFDR (dB) 76 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input buffer Yes Radiation, TID (typ) (krad) 300 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 120
Sample rate (max) (Msps) 3200, 6400 Resolution (Bits) 12 Number of input channels 1, 2 Interface type JESD204B Analog input BW (MHz) 7300 Features Ultra High Speed Rating Space Peak-to-peak input voltage range (V) 0.8 Power consumption (typ) (mW) 3000 Architecture Folding Interpolating SNR (dB) 57.2 ENOB (bit) 8.9 SFDR (dB) 76 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input buffer Yes Radiation, TID (typ) (krad) 300 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 120
CCGA-FC (NWE) 196 225 mm² 15 x 15 CLGA-FC (ZMX) 196 225 mm² 15 x 15
  • ADC core:
    • 12-Bit resolution
    • Up to 6.4 GSPS in single-channel mode
    • Up to 3.2 GSPS in dual-channel mode
  • Noise floor (no signal, VFS = 1 VPP-DIFF):
    • Dual-channel mode: –149.5 dBFS/Hz
    • Single-channel mode: –152.4 dBFS/Hz
  • Peak noise power ratio (NPR): 45.4 dB
  • Buffered analog inputs with VCMI of 0 V:
    • Analog input bandwidth (–3 dB): 7 GHz
    • Usable input frequency range: >10 GHz
    • Full-scale input voltage (VFS, default): 0.8 VPP
  • Noiseless aperture delay (tAD) adjustment:
    • Precise sampling control: 19-fs step size
    • Temperature and voltage invariant delays
  • Easy-to-use synchronization features
    • Automatic SYSREF timing calibration
    • Timestamp for sample marking
  • JESD204B subclass-1 compliant interface:
    • Maximum lane rate: 12.8 Gbps
    • Up to 16 lanes allows reduced lane rate
  • Digital down-converters in dual-channel mode:
    • Real output: DDC bypass or 2x decimation
    • Complex output: 4x, 8x, or 16x decimation
  • Radiation performance:
    • Total Ionizing Dose (TID): 300 krad (Si)
    • Single Event Latchup (SEL): 120 MeV-cm2/mg
    • Single Event Upset (SEU) immune registers
  • Power consumption: 3 W
  • ADC core:
    • 12-Bit resolution
    • Up to 6.4 GSPS in single-channel mode
    • Up to 3.2 GSPS in dual-channel mode
  • Noise floor (no signal, VFS = 1 VPP-DIFF):
    • Dual-channel mode: –149.5 dBFS/Hz
    • Single-channel mode: –152.4 dBFS/Hz
  • Peak noise power ratio (NPR): 45.4 dB
  • Buffered analog inputs with VCMI of 0 V:
    • Analog input bandwidth (–3 dB): 7 GHz
    • Usable input frequency range: >10 GHz
    • Full-scale input voltage (VFS, default): 0.8 VPP
  • Noiseless aperture delay (tAD) adjustment:
    • Precise sampling control: 19-fs step size
    • Temperature and voltage invariant delays
  • Easy-to-use synchronization features
    • Automatic SYSREF timing calibration
    • Timestamp for sample marking
  • JESD204B subclass-1 compliant interface:
    • Maximum lane rate: 12.8 Gbps
    • Up to 16 lanes allows reduced lane rate
  • Digital down-converters in dual-channel mode:
    • Real output: DDC bypass or 2x decimation
    • Complex output: 4x, 8x, or 16x decimation
  • Radiation performance:
    • Total Ionizing Dose (TID): 300 krad (Si)
    • Single Event Latchup (SEL): 120 MeV-cm2/mg
    • Single Event Upset (SEU) immune registers
  • Power consumption: 3 W

The ADC12DJ3200QML-SP device is an RF-sampling, giga-sample, analog-to-digital converter (ADC) that can directly sample input frequencies from dc to above 10 GHz. In dual-channel mode, the ADC12DJ3200QML-SP can sample up to 3200 MSPS. In single-channel mode, the device can sample up to 6400 MSPS. Programmable tradeoffs in channel count (dual-channel mode) and Nyquist bandwidth (single-channel mode) allow development of flexible hardware that meets the needs of both high channel count or wide instantaneous signal bandwidth applications. Full-power input bandwidth (–3 dB) of 7 GHz, with usable frequencies exceeding the –3-dB point in both dual- and single-channel modes, allows direct RF sampling of L-band, S-band, C-band, and X-band for frequency agile systems.

The ADC12DJ3200QML-SP uses a high-speed JESD204B output interface with up to 16 serialized lanes and subclass-1 compliance for deterministic latency and multidevice synchronization. The serial output lanes support up to 12.8 Gbps, and can be configured to trade off bit rate and number of lanes. Innovative synchronization features, including noiseless aperture delay (tAD) adjustment and SYSREF windowing, simplify system design for synthetic aperture radar (SAR) and phased-array MIMO communications. Optional digital down converters (DDCs) in dual-channel mode allow for reduction in interface rate (real and complex decimation modes) and digital mixing of the signal (complex decimation modes only).

The ADC12DJ3200QML-SP device is an RF-sampling, giga-sample, analog-to-digital converter (ADC) that can directly sample input frequencies from dc to above 10 GHz. In dual-channel mode, the ADC12DJ3200QML-SP can sample up to 3200 MSPS. In single-channel mode, the device can sample up to 6400 MSPS. Programmable tradeoffs in channel count (dual-channel mode) and Nyquist bandwidth (single-channel mode) allow development of flexible hardware that meets the needs of both high channel count or wide instantaneous signal bandwidth applications. Full-power input bandwidth (–3 dB) of 7 GHz, with usable frequencies exceeding the –3-dB point in both dual- and single-channel modes, allows direct RF sampling of L-band, S-band, C-band, and X-band for frequency agile systems.

The ADC12DJ3200QML-SP uses a high-speed JESD204B output interface with up to 16 serialized lanes and subclass-1 compliance for deterministic latency and multidevice synchronization. The serial output lanes support up to 12.8 Gbps, and can be configured to trade off bit rate and number of lanes. Innovative synchronization features, including noiseless aperture delay (tAD) adjustment and SYSREF windowing, simplify system design for synthetic aperture radar (SAR) and phased-array MIMO communications. Optional digital down converters (DDCs) in dual-channel mode allow for reduction in interface rate (real and complex decimation modes) and digital mixing of the signal (complex decimation modes only).
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Typ Titel Datum
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Design und Entwicklung

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Evaluierungsplatine

ADC12DJ3200EVM — ADC12DJ3200 – ADC mit HF-Abtastung, 12 Bit, dual 3,2 GSPS oder einzeln 6,4 GSPS – Evaluierungsmodul

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Benutzerhandbuch: PDF
Nicht verfügbar auf TI.com
Evaluierungsplatine

ADC12DJ3200EVMCVAL — ADC12DJ3200QML-SP-Evaluierungsmodul

Das ADC12DJ3200EVMCVAL ist ein Evaluierungsmodul (EVM), welches den Baustein ADC12DJ3200QML-SP evaluiert. Der ADC12DJ3200QML-SP ist ein energieeffizienter 12-Bit-Analog-Digital-Wandler (ADC), Dual 3,2-GSPS/Einfach 6,4-GSPS mit HF-Abtastung und gepuffertem Analogeingang, integriertem digitalen (...)

Benutzerhandbuch: PDF
Nicht verfügbar auf TI.com
Firmware

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Support-Software

SLVC806 — Xilinx AlphaData Demo

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Unterstützte Produkte und Hardware

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Hardware-Entwicklung
Evaluierungsplatine
ADC12DJ3200EVMCVAL — ADC12DJ3200QML-SP-Evaluierungsmodul
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ADC12DJ3200 and ADC12DJ3200QML-SP IBIS and IBIS-AMI Model

SLVMDV3.ZIP (47828 KB) - IBIS-AMI Model
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Simulationsmodell

ADC12DJ3200QML-SP S-Parameter Model

SLVMDU7.ZIP (9 KB) - S-Parameter Model
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Montagezeichnung

ADC12DJ3200QML-EVM Assembly Package

SLVRBF5.ZIP (4838 KB)
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Gerberdatei

ADC12DJ3200EVMCVAL Design Files

SLVC819.ZIP (4838 KB)
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PSPICE-FOR-TI — PSpice® für TI Design-und Simulationstool

PSpice® für TI ist eine Design- und Simulationsumgebung, welche Sie dabei unterstützt, die Funktionalität analoger Schaltungen zu evaluieren. Diese voll ausgestattete Design- und Simulationssuite verwendet eine analoge Analyse-Engine von Cadence®. PSpice für TI ist kostenlos erhältlich und (...)
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CLGA-FC (ZMX) 196 Optionen anzeigen
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