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TMUX182-SEP

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Radiation tolerant, 8:1, one-channel multiplexer with 1.8V logic

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TMUX182-SEP

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Detalles del producto

Configuration 8:1 Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 5, 12 Power supply voltage - dual (V) +/-5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 75 CON (typ) (pF) 13 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Supply current (typ) (µA) 1.9 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Features 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make Input/output continuous current (max) (A) 0.01 Rating Space Supply voltage (max) (V) 15
Configuration 8:1 Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 5, 12 Power supply voltage - dual (V) +/-5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 75 CON (typ) (pF) 13 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Supply current (typ) (µA) 1.9 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Features 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make Input/output continuous current (max) (A) 0.01 Rating Space Supply voltage (max) (V) 15
SOT-23-THN (DYY) 16 8.4 mm² 4.2 x 2
  • VID V62/26609-01XE
  • Space enhanced plastic
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Operating temperature from –55°C to +125°C
    • Controlled baseline
    • Au (gold) bondwire and NiPdAu lead finish
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Enhanced mold compound for low outgassing
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
  • Total ionizing dose characterized at 30krad (Si)
    • Total ionizing dose radiation lot acceptance (TID RLAT) for every wafer lot to 30krad (Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 47MeV-cm2/mg
    • Single event transient (SET) characterization report available
  • Single supply range: 5V to 15V
  • Dual supply range: up to ±6V
  • Low capacitance: 3pF
  • Bidirectional signal path
  • Rail-to-rail operation
  • 1.8V logic compatible
  • Break-before-make switching
  • ESD protection HBM: 2000V
  • VID V62/26609-01XE
  • Space enhanced plastic
    • Supports Defense and Aerospace Applications
    • Operating temperature from –55°C to +125°C
    • Controlled baseline
    • Au (gold) bondwire and NiPdAu lead finish
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Enhanced mold compound for low outgassing
    • Meets NASA ASTM E595 outgassing specification
  • Total ionizing dose characterized at 30krad (Si)
    • Total ionizing dose radiation lot acceptance (TID RLAT) for every wafer lot to 30krad (Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized:
    • Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 47MeV-cm2/mg
    • Single event transient (SET) characterization report available
  • Single supply range: 5V to 15V
  • Dual supply range: up to ±6V
  • Low capacitance: 3pF
  • Bidirectional signal path
  • Rail-to-rail operation
  • 1.8V logic compatible
  • Break-before-make switching
  • ESD protection HBM: 2000V

The TMUX182-SEP device is general purpose complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) multiplexer (MUX). The device works with a single supply (5V to 15V), dual supplies (up to ±6V), or asymmetric supplies (such as VDD = 6V, VSS = –3V). The wide supply voltage range allows the devices to be used in a broad array of applications in space.

The TMUX182-SEP supports bidirectional analog signals on the source (Sx) and drain (Dx) pins ranging from VSS to VDD. All logic inputs have 1.8V logic compatible thresholds, which is compatible for both TTL and CMOS logic when operating with a valid supply voltage.

The TMUX182-SEP device is general purpose complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) multiplexer (MUX). The device works with a single supply (5V to 15V), dual supplies (up to ±6V), or asymmetric supplies (such as VDD = 6V, VSS = –3V). The wide supply voltage range allows the devices to be used in a broad array of applications in space.

The TMUX182-SEP supports bidirectional analog signals on the source (Sx) and drain (Dx) pins ranging from VSS to VDD. All logic inputs have 1.8V logic compatible thresholds, which is compatible for both TTL and CMOS logic when operating with a valid supply voltage.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Fecha
* Data sheet TMUX182-SEP Radiation Tolerant 15V, 8:1, 1-Channel Multiplexer With 1.8V Logic datasheet (Rev. A) PDF | HTML 27 may 2026
* Radiation & reliability report TMUX182-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 27 abr 2026
* Radiation & reliability report TMUX182-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report 27 abr 2026
* Radiation & reliability report TMUX182-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 02 abr 2026
Application note Space ADC Circuit Cookbook PDF | HTML 11 may 2026

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

16DYYPWEVM — Placa de prueba para encapsulados SOT-23 THIN (DYY) y TSSOP (PW)

La placa de prueba 16DYYPWEVM proporciona un espacio doble para encapsulados SOT-23 THIN (DYY) y TSSOP (PW).  Esta placa de prueba se utiliza para la creación rápida de prototipos y pruebas de circuitos integrados en encapsulados SOT-23 THIN (DYY) y TSSOP (PW) de 16 pines. 
Guía del usuario: PDF
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

TMUXBQB-DYYEVM — Módulo de evaluación de TMUX genérico para encapsulados BQB, DYY y PW de 16 pines

El TMUXBQB-DYYEVM permite la creación rápida de prototipos y la caracterización de CD de nuestra línea de productos TMUX que usan los encapsulados TSSOP (PW) de 16 pines, WQFN (BQB) y SOT-23 THIN (DYY).

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOT-23-THN (DYY) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

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