ADC08D1520QML-SP
放射線耐性保証 (RHA)、QMLV、300krad、セラミック、8 ビット、デュアル 1.5GSPS またはシングル 3GSPS の ADC
ADC08D1520QML-SP
- Total Ionizing Dose 300 krad(Si)
- Single Event Latch-up 120 MeV-cm2/mg
- Single +1.9V ±0.1V Operation
- Interleave Mode for 2x Sample Rate
- Multiple ADC Synchronization Capability
- Adjustment of Input Full-Scale Range, Offset and Clock Phase Adjustment
- Choice of SDR or DDR output clocking
- 1:1 or 1:2 Selectable Output Demux
- Second DCLK output
- Duty Cycle Corrected Sample Clock
- Test pattern
- Serial Interface for Extended Control
Key Specifications
- Resolution 8 Bits
- Max Conversion Rate 1.5 GSPS (min)
- Code Error Rate 10-18 (typ)
- ENOB at 748 MHz Input 7.2 Bits (typ)
- DNL ±0.15 LSB (typ)
- Power Consumption
- Operating in 1:2 Demux Output 2.0 W (typ)
- Power Down Mode 2.9 mW (typ)
All trademarks are the property of their respective owners.
The ADC08D1520 is an 8–Bit, dual channel, low power, high performance CMOS analog-to-digital converter that builds upon the ADC08D1000 platform. The ADC08D1520 digitizes signals to 8 bits of resolution at sample rates up to 1.7 GSPS. It has expanded features compared to the ADC08D1000, which include a test pattern output for system debug, clock phase adjust, and selectable output demultiplexer modes. Consuming a typical 2.0W in Demultiplex Mode at 1.5 GSPS from a single 1.9 Volt supply, this device is ensured to have no missing codes over the full operating temperature range. The unique folding and interpolating architecture, the fully differential comparator design, the innovative design of the internal sample-and-hold amplifier and the self-calibration scheme enable a very flat response of all dynamic parameters beyond Nyquist, producing a high 7.2 Effective Number of Bits (ENOB) with a 748 MHz input signal and a 1.5 GHz sample rate while providing a 10-18 Code Error Rate (C.E.R.) Output formatting is offset binary and the Low Voltage Differential Signaling (LVDS) digital outputs are compatible with IEEE 1596.3-1996, with the exception of an adjustable common mode voltage between 0.8V and 1.2V.
Each converter has a selectable output demultiplexer which feeds two LVDS buses. If the 1:2 Demultiplexed Mode is selected, the output data rate is reduced to half the input sample rate on each bus. When Non-Demultiplexed Mode is selected, the output data rate on channels DI and DQ are at the same rate as the input sample clock. The two converters can be interleaved and used as a single 3 GSPS ADC.
The converter typically consumes less than 2.9 mW in the Power Down Mode and is available in a 128-pin, thermally enhanced, multi-layer ceramic quad package and operates over the Military (-55°C ≤ TA ≤ +125°C) temperature range.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | ADC08D1520QML Low Power, 8-Bit, Dual 1.5 GSPS or Single 3.0 GSPS A/D Converter データシート (Rev. O) | 2013年 3月 19日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | ADC SEU Test Method | 2012年 5月 4日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | ADC08D1520WGFQV SEU Report | 2012年 5月 4日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | ADC08D1520WGFQV TID Report | 2012年 5月 4日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | Analysis of Low Dose Rate Effects on Parasitic Bipolar Structures in CMOS Proces | 2012年 5月 4日 | |||
その他の技術資料 | TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. A) | 2023年 8月 31日 | ||||
アプリケーション・ノート | Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 11月 17日 | |||
アプリケーション・ノート | Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 10月 19日 | |||
セレクション・ガイド | TI Space Products (Rev. I) | 2022年 3月 3日 | ||||
e-Book(PDF) | Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) | 2019年 5月 21日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-1558 Clocking High-Speed A/D Converters (Rev. B) | 2013年 5月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Application Note 1558 Clocking High-Speed A/D Converters (jp) | 2007年 3月 17日 |
設計と開発
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PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ | ピン数 | ダウンロード |
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CFP (NBC) | 128 | オプションの表示 |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 材質成分
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。