ISOS141-SEP

アクティブ

耐放射線特性、宇宙向け強化プラスチック・パッケージに封止、クワッドチャネル、3/1 デジタル・アイソレータ

製品詳細

Rating Space Integrated isolated power No Isolation rating Basic Number of channels 4 Forward/reverse channels 3 forward / 1 reverse Default output High, Low Data rate (max) (MBps) 100 Surge isolation voltage (VIOSM) (VPK) 5200 Transient isolation voltage (VIOTM) (VPK) 4242 Withstand isolation voltage (VISO) (Vrms) 3000 CMTI (min) (V/µs) 85000 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (min) (V) 2.25 Propagation delay time (typ) (µs) 0.0107 Current consumption per channel (DC) (typ) (mA) 0.88 Current consumption per channel (1 Mbps) (typ) (mA) 1.48 Creepage (min) (mm) 3.7 Clearance (min) (mm) 3.7
Rating Space Integrated isolated power No Isolation rating Basic Number of channels 4 Forward/reverse channels 3 forward / 1 reverse Default output High, Low Data rate (max) (MBps) 100 Surge isolation voltage (VIOSM) (VPK) 5200 Transient isolation voltage (VIOTM) (VPK) 4242 Withstand isolation voltage (VISO) (Vrms) 3000 CMTI (min) (V/µs) 85000 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (min) (V) 2.25 Propagation delay time (typ) (µs) 0.0107 Current consumption per channel (DC) (typ) (mA) 0.88 Current consumption per channel (1 Mbps) (typ) (mA) 1.48 Creepage (min) (mm) 3.7 Clearance (min) (mm) 3.7
SSOP (DBQ) 16 29.4 mm² 4.9 x 6
  • 放射線耐性
    • 総照射線量 (TID) 耐性 (ELDRS フリー) = 30krad (Si)
    • TID RLAT/RHA = 30krad(Si)
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性:LET = 43MeV⋅cm 2/mg (125℃)
    • シングル・イベント誘電体破壊 (SEDR) 耐性:43MeV⋅cm 2/mg (V DC = 500V)
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP)
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/21610
    • ミリタリー温度範囲 (-55℃~125℃)
    • 単一のウェハー製造施設
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハー・ロットをトレース可能
    • 長期にわたる製品ライフ・サイクル
    • 長期にわたる製品変更通知
  • 600V RMS の連続動作電圧
    • DIN VDE V 0884-11:2017-01
    • UL 1577 部品認定プログラム
  • 100Mbps のデータ・レート
  • 広い電源電圧範囲:2.25V~5.5V
  • 2.25V/5.5V レベル変換
  • デフォルト出力は Low
  • 低消費電力:1.5mA/チャネル (標準値、1Mbps 時)
  • 小さい伝搬遅延時間:10.7ns (標準値、電源電圧 5V 時)
  • 小さいチャネル間スキュー4ns 以下 (電源電圧 5V 時)
  • CMTI:±100kV/µs (標準値)
  • システム・レベルの ESD、EFT、サージ、磁気耐性
  • 小型 QSOP (DBQ-16) パッケージ

  • 放射線耐性
    • 総照射線量 (TID) 耐性 (ELDRS フリー) = 30krad (Si)
    • TID RLAT/RHA = 30krad(Si)
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性:LET = 43MeV⋅cm 2/mg (125℃)
    • シングル・イベント誘電体破壊 (SEDR) 耐性:43MeV⋅cm 2/mg (V DC = 500V)
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP)
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/21610
    • ミリタリー温度範囲 (-55℃~125℃)
    • 単一のウェハー製造施設
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハー・ロットをトレース可能
    • 長期にわたる製品ライフ・サイクル
    • 長期にわたる製品変更通知
  • 600V RMS の連続動作電圧
    • DIN VDE V 0884-11:2017-01
    • UL 1577 部品認定プログラム
  • 100Mbps のデータ・レート
  • 広い電源電圧範囲:2.25V~5.5V
  • 2.25V/5.5V レベル変換
  • デフォルト出力は Low
  • 低消費電力:1.5mA/チャネル (標準値、1Mbps 時)
  • 小さい伝搬遅延時間:10.7ns (標準値、電源電圧 5V 時)
  • 小さいチャネル間スキュー4ns 以下 (電源電圧 5V 時)
  • CMTI:±100kV/µs (標準値)
  • システム・レベルの ESD、EFT、サージ、磁気耐性
  • 小型 QSOP (DBQ-16) パッケージ

ISOS141-SEP 放射線耐性デバイスは、小型の 16 ピン QSOP パッケージに封止された高性能 4 チャネル・デジタル・アイソレータです。それぞれの絶縁チャネルにはロジック入力および出力バッファがあり、二重の容量性二酸化ケイ素 (SiO 2) 絶縁バリアによって分離されています。このデバイスは、100Mbps の高いデータ・レート、10.7ns の小さい伝搬遅延、4ns の小さいチャネル間スキューという特長によって低軌道 (LEO) 衛星用途に対応します。ISOS141-SEP デバイスは 3 つの順方向チャネルと 1 つの逆方向チャネルを備えており、入力電力または信号が失われた場合のデフォルト出力は Low です。マルチマスタ駆動アプリケーションのために、または消費電力を低減するために、イネーブル・ピンを使って各出力を高インピーダンスにすることができます。

ISOS141-SEP は、CMOS または LVCMOS デジタル I/O を絶縁すると同時に、高い電磁気耐性と低い放射を低消費電力で実現します。本デバイスは、革新的なチップ設計により、100kV/µs という優れた同相過渡耐性を備えているため、システム・レベルの ESD、EFT、サージを軽減できます。また、放射のコンプライアンスに簡単に対応できます。

ISOS141-SEP 放射線耐性デバイスは、小型の 16 ピン QSOP パッケージに封止された高性能 4 チャネル・デジタル・アイソレータです。それぞれの絶縁チャネルにはロジック入力および出力バッファがあり、二重の容量性二酸化ケイ素 (SiO 2) 絶縁バリアによって分離されています。このデバイスは、100Mbps の高いデータ・レート、10.7ns の小さい伝搬遅延、4ns の小さいチャネル間スキューという特長によって低軌道 (LEO) 衛星用途に対応します。ISOS141-SEP デバイスは 3 つの順方向チャネルと 1 つの逆方向チャネルを備えており、入力電力または信号が失われた場合のデフォルト出力は Low です。マルチマスタ駆動アプリケーションのために、または消費電力を低減するために、イネーブル・ピンを使って各出力を高インピーダンスにすることができます。

ISOS141-SEP は、CMOS または LVCMOS デジタル I/O を絶縁すると同時に、高い電磁気耐性と低い放射を低消費電力で実現します。本デバイスは、革新的なチップ設計により、100kV/µs という優れた同相過渡耐性を備えているため、システム・レベルの ESD、EFT、サージを軽減できます。また、放射のコンプライアンスに簡単に対応できます。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート ISOS141-SEP 放射線耐性、高速 4 チャネル・デジタル・アイソレータ データシート PDF | HTML 英語版をダウンロード PDF | HTML 2021年 3月 5日
* 放射線と信頼性レポート ISOS141-SEP Neutron Displacement Damage Characterization 2021年 3月 18日
* 放射線と信頼性レポート ISOS141-SEP Production Flow and Reliability Report 2021年 3月 18日
* 放射線と信頼性レポート ISOS141-SEP Quad-Channel Digital Isolator TID Report 2021年 3月 17日
* 放射線と信頼性レポート ISOS141-SEP Single-Event Latch-Up (SEL) Radiation Report 2021年 3月 17日
証明書 VDE Certificate for Basic Isolation for DIN EN IEC 60747-17 (Rev. U) 2023年 2月 7日
技術記事 How Space-Enhanced Plastic devices address challenges in low-Earth orbit applications 2022年 9月 19日
証明書 UL Certificate of Compliance File E181974 Vol 4 Sec 6 (Rev. P) 2022年 8月 5日
アプリケーション・ノート How to Isolate Signals with Digital Isolators in Emerging LEO Satellite Apps (Rev. A) PDF | HTML 2022年 7月 6日
セレクション・ガイド TI Space Products (Rev. I) 2022年 3月 3日
技術記事 How space-grade digital isolation meets high radiation and immunity requirements in LEO satellites 2021年 10月 14日
アプリケーション・ノート Space-Grade, 30 krad, Isolated I2C Circuit PDF | HTML 2021年 6月 1日
アプリケーション・ノート Space-Grade, 30-krad, Isolated CAN Serial Transceiver Circuit PDF | HTML 2021年 6月 1日
アプリケーション・ノート Space-Grade, 30-krad, Isolated RS-422 Serial Transceiver Circuit PDF | HTML 2021年 6月 1日
技術記事 How to select the right digital isolator for your design 2020年 10月 21日
技術記事 Why signal isolation matters in 48-V HEV/EV systems 2019年 11月 20日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページを表示してください。

評価ボード

DIGI-ISO-EVM — Universal digital isolator evaluation module

DIGI-ISO-EVM は、以下の 5 種類のパッケージのいずれかに封止されている、TI のシングルチャネル、デュアルチャネル、トリプルチャネル、クワッドチャネル、または 6 チャネル・デジタル・アイソレータ・デバイスの評価に使用できる評価基板です。8 ピン NB SOIC (D)、8 ピン WB SOIC (DWV)、16 ピン WB SOIC (DW)、16 ピン ultra WB (超幅広) SOIC (DWW)、16 ピン QSOP (DBQ) の各パッケージ。この EVM (評価基板) は十分な数の Berg (...)

ユーザー・ガイド: PDF | HTML
シミュレーション・モデル

ISOS141-SEP IBIS Model

SLLM498.ZIP (63 KB) - IBIS Model
パッケージ ピン数 ダウンロード
SSOP (DBQ) 16 オプションの表示

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL rating / リフローピーク温度
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材料 (内容)
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス・デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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