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SN54AC00-DIE

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耐放射線特性、Class-V、クワッド 2入力正論理 NAND ゲート

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製品詳細

Technology family AC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
Technology family AC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
DIESALE (TD) — See data sheet
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7 ns at 5 V
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7 ns at 5 V

The SN54AC00-DIE device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

The SN54AC00-DIE device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
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技術資料

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* データシート Rad-Tolerant, Quadruple 2-Input Positive-NAND Gate データシート (Rev. A) 2013年 11月 4日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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