SN54AC00-DIE

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耐放射線特性、QML-V、クワッド 2入力正論理 NAND ゲート

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document-pdfAcrobat Rad-Tolerant, Quadruple 2-Input Positive-NAND Gate データシート (Rev. A) (英語)

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Operating temperature range (°C)

25 to 25

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2-V to 6-V V_CC Operation
Inputs Accept Voltages to 6 V
Max t_pd of 7 ns at 5 V

2-V to 6-V V_CC Operation
Inputs Accept Voltages to 6 V
Max t_pd of 7 ns at 5 V

The SN54AC00-DIE device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

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*	データシート	Rad-Tolerant, Quadruple 2-Input Positive-NAND Gate データシート (Rev. A)				2013/11/04

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