데이터 시트
SN54SC245-SEP
- Vendor item drawing available, VID V62/23616
- Total ionizing dose characterized at 30 krad(Si)
- Total ionizing dose characterized radiation lot acceptance testing (TID RLAT) for every wafer lot to 30 krad(Si)
- Single-event effects (SEE) characterized:
- Single event latch-up (SEL) immune to linear energy transfer (LET) = 43 MeV-cm2 /mg
- Single event transient (SET) characterized to 43 MeV-cm2 /mg
- Wide operating range of 1.2 V to 5.5 V
- 5.5 V tolerant input pins
- Output drive up to 25 mA at 5-V
- Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
- Space enhanced plastic (SEP)
- Controlled baseline
- Gold bondwire
- NiPdAu lead finish
- One assembly and test site
- One fabrication site
- Military (–55°C to 125°C) temperature range
- Extended product life cycle
- Product traceability
- Meets NASAs ASTM E595 outgassing specification
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기술 자료
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4개 모두 보기 유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | SN54SC245-SEP Radiation-Tolerant, 1.2-V to 5.5-V, Octal Bus TransceiversWith 3-State Outputs datasheet | PDF | HTML | 2023/06/28 |
* | Radiation & reliability report | SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report | PDF | HTML | 2023/10/17 |
* | Radiation & reliability report | SN54SC245-SEP Reliability Report | PDF | HTML | 2023/08/23 |
* | Radiation & reliability report | SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report | PDF | HTML | 2023/08/16 |
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
평가 보드
14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치