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eFuses (integrierte Hot-Swaps)

TPS7H2140-SEP

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Radiation-tolerant, 4.5V to 32V, input 1.35A 160-mΩ quad-channel eFuse

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Datenblatt

TPS7H2140-SEP

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Produktdetails

Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² (9.7 mm × 6.4 mm)
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
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Technische Dokumentation

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Top-Dokumentation Typ Titel Format-Optionen Neueste englische Version herunterladen Datum
* Datenblatt TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 11.08.2023
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 06.11.2023
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 10.10.2023
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 09.10.2023
* Strahlungs- und Zuverlässigkeitsbericht TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 04.10.2023
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 01.05.2024
Auswahlhilfe TI Space Products (Rev. L) 27.03.2026
Whitepaper Designing Space Systems With Integrated FDIR: A Guide to TI's Space-Grade Components PDF | HTML 12.07.2025
Technischer Artikel How Space Enhanced Products Address Challenges in low Earth orbit Applications (Rev. A) PDF | HTML 18.12.2023
Zertifikat TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) PDF | HTML 24.07.2023
Anwendungshinweis Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15.09.2022
Technischer Artikel Simplifying radiation-hardened power-supply design with eFuses PDF | HTML 14.07.2020
Anwendungshinweis Failure Containment in Spacecraft Point-of-Load Power Supplies PDF | HTML 30.04.2020
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21.05.2019
Technischer Artikel When failure isn’t an option: power up your next satellite with integrated functio PDF | HTML 30.04.2019

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

TPS7H2140EVM — Evaluierungsmodul TPS7H2140-SEP für strahlungstolerante vierkanalige Kunststoff-eFuse

Das Evaluierungsmodul TPS7H2140-SEP demonstriert den Betrieb einer vierkanaligen eFuse. Die Platine ist für die Prüfung paralleler Ausgangskanäle konfiguriert und kann so angepasst werden, dass die Ausgangskanäle aufgeteilt und/oder andere Gerätefunktionen angepasst werden können.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Unterstützte Produkte und Hardware
Vorrätig
Limit:
??asset.out-of-stock-ti_de_DE??
Nicht verfügbar
Simulationsmodell

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice-Modell
Unterstützte Produkte und Hardware
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

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Empfohlene Produkte können Parameter, Evaluierungsmodule oder Referenzdesigns zu diesem TI-Produkt beinhalten.

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