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TPS7H2140-SEP

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Strahlungstolerant, 4,5 V bis 32 V, Eingang 1,35 A, 160-mΩ-4-Kanal-eFuse

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Datenblatt

TPS7H2140-SEP

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Produktdetails

FET Internal Ron (typ) (mΩ) 160 Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 32 Current limit (min) (A) 0.25 Current limit (max) (A) 7 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Soft start Fixed Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
FET Internal Ron (typ) (mΩ) 160 Vin (min) (V) 4.5 Vin (max) (V) 32 Current limit (min) (A) 0.25 Current limit (max) (A) 7 Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Soft start Fixed Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Rating Space Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² 9.7 x 6.4
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
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Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
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Typ Titel Datum
* Data sheet TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 11 Aug 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 06 Nov 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 10 Okt 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 09 Okt 2023
* Radiation & reliability report TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 04 Okt 2023
EVM User's guide TPS7H2140EVM, TPS7H2140-SEP Evaluation Module User's Guide (Rev. A) PDF | HTML 18 Aug 2023
Certificate TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 24 Jul 2023
Application note Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 15 Sep 2022
Selection guide TI Space Products (Rev. I) 03 Mär 2022
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 21 Mai 2019

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

TPS7H2140EVM — Evaluierungsmodul TPS7H2140-SEP für strahlungstolerante vierkanalige Kunststoff-eFuse

Das Evaluierungsmodul TPS7H2140-SEP demonstriert den Betrieb einer vierkanaligen eFuse. Die Platine ist für die Prüfung paralleler Ausgangskanäle konfiguriert und kann so angepasst werden, dass die Ausgangskanäle aufgeteilt und/oder andere Gerätefunktionen angepasst werden können.

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Nicht verfügbar auf TI.com
Simulationsmodell

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice Model
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Berechnungstool

TVS-RECOMMENDATION-CALC — TVS diode recommendation tool

This tool suggests suitable TVS for given system parameters and abs max voltage rating of the device.
Unterstützte Produkte und Hardware

Unterstützte Produkte und Hardware

Diese Designressource unterstützt die meisten Produkte in diesen Kategorien.

Informationen zum Support sind der Seite mit den Produktdetails zu entnehmen.
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Simulationstool

PSPICE-FOR-TI — PSpice® für TI Design-und Simulationstool

PSpice® für TI ist eine Design- und Simulationsumgebung, welche Sie dabei unterstützt, die Funktionalität analoger Schaltungen zu evaluieren. Diese voll ausgestattete Design- und Simulationssuite verwendet eine analoge Analyse-Engine von Cadence®. PSpice für TI ist kostenlos erhältlich und (...)
Anfordern
Gehäuse Pins Herunterladen
HTSSOP (PWP) 28 Optionen anzeigen
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

Bestellen & Qualität

Beinhaltete Information:
  • RoHS
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  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

Empfohlene Produkte können Parameter, Evaluierungsmodule oder Referenzdesigns zu diesem TI-Produkt beinhalten.

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