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LOG300

ACTIVO

Detector logarítmico de 40 MHz con amplificador de bajo ruido integrado

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LOG300

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Detalles del producto

Vs (±) (min) (V) 3 Vs (±) (max) (V) 5.25 Iq (max) (mA) 7.2 Dynamic range (typ) (dB) 97 Reference type Ext, External Full-scale output voltage (min) (±V) 0.082 Full-scale output voltage (max) (±V) 4.7 Conformity error (initial 5 decades) (max) (%) 1 Conformity error (initial 5 decades) (typ. over temp) (%/°C) 1.1 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Vs (±) (min) (V) 3 Vs (±) (max) (V) 5.25 Iq (max) (mA) 7.2 Dynamic range (typ) (dB) 97 Reference type Ext, External Full-scale output voltage (min) (±V) 0.082 Full-scale output voltage (max) (±V) 4.7 Conformity error (initial 5 decades) (max) (%) 1 Conformity error (initial 5 decades) (typ. over temp) (%/°C) 1.1 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 VQFN (RGT) 16 9 mm² 3 x 3
  • Input range:
    • LNA + Log Detector: 7µVP to 200mVP
    • Log Detector: 20µVP to 1.6VP
  • Adjustable output to input slope and response time
  • Supports single-ended and differential inputs
  • Dynamic range: 98dB with log conformance error (LCE) = ±1dB
  • Signal detection from 50Hz to 40MHz; even higher with reduced LCE
  • Input frequency detection, zero cross detect
  • Supply: 3V to 5.25V
  • Input range:
    • LNA + Log Detector: 7µVP to 200mVP
    • Log Detector: 20µVP to 1.6VP
  • Adjustable output to input slope and response time
  • Supports single-ended and differential inputs
  • Dynamic range: 98dB with log conformance error (LCE) = ±1dB
  • Signal detection from 50Hz to 40MHz; even higher with reduced LCE
  • Input frequency detection, zero cross detect
  • Supply: 3V to 5.25V

The LOG300 is an integrated analog front end (AFE) consisting of low-noise amplifier (LNA) and a Log Detector block. This device supports an input frequency range from 50Hz to 40MHz and a typical dynamic range of 98dB. The LOG300 is intended for use in applications that require a wide dynamic range of voltage and signal measurement. The Log Detector block of LOG300 supports both single-ended and differential inputs. The low input noise of the integrated LNA, allows measurement of signals as low as 7µVP. The transient output response can be adjusted by tuning the capacitor connected at the Log_Out pin. The integrated frequency detect feature of LOG300 enables users to extract input signal frequency and zero-crossing information.

The LOG300 is available in a 16-pin SOIC and 16-pin VQFN package. The LOG300 is operational from a 3V to 5.25V supply and over the full ambient temperature range of –40°C to +125°C.

The LOG300 is an integrated analog front end (AFE) consisting of low-noise amplifier (LNA) and a Log Detector block. This device supports an input frequency range from 50Hz to 40MHz and a typical dynamic range of 98dB. The LOG300 is intended for use in applications that require a wide dynamic range of voltage and signal measurement. The Log Detector block of LOG300 supports both single-ended and differential inputs. The low input noise of the integrated LNA, allows measurement of signals as low as 7µVP. The transient output response can be adjusted by tuning the capacitor connected at the Log_Out pin. The integrated frequency detect feature of LOG300 enables users to extract input signal frequency and zero-crossing information.

The LOG300 is available in a 16-pin SOIC and 16-pin VQFN package. The LOG300 is operational from a 3V to 5.25V supply and over the full ambient temperature range of –40°C to +125°C.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet LOG300 40MHz, 98dB Logarithmic Detector With Integrated Low-Noise Amplifier datasheet (Rev. C) PDF | HTML 22 sep 2025
Application brief Improving Arc Fault Detection with Log Amplifier PDF | HTML 20 ene 2026
Application note Ultrasonic Sensing Using LOG Detector Amplifier PDF | HTML 01 oct 2024
Certificate LOG300DEVM EU Declaration of Conformity (DoC) 24 sep 2024

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

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Placa de evaluación

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Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Modelo de simulación

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SLOM524.ZIP (34 KB) - TINA-TI Spice Model
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Herramienta de simulación

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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
VQFN (RGT) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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