AFE11612-SEP

アクティブ

Radiation-tolerant, 12-bit analog front end with temperature sensors, 12 DAC and 16 ADC-channels

製品詳細

Number of ADC channels 16 ADC resolution (bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
Number of ADC channels 16 ADC resolution (bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
HTQFP (PAP) 64 144 mm² (12 mm × 12 mm)
  • 放射線耐性:
    • LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
    • LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
    • 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP):
    • ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
    • 軍用温度範囲:-55℃~+125℃
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハ・ロットをトレース可能
    • 長い製品ライフ・サイクル
  • 12 個の単調性 12 ビット DAC
    • 出力電圧範囲:0V~5V
    • ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
  • 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
    • 高いサンプル・レート:500kSPS
    • 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
    • 範囲外アラームをプログラム可能
  • 8 ピン GPIO
  • 内部 2.5V リファレンス
  • 2 つのリモート温度センサ
  • 内部温度センサ
  • 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
    • 2.7V~5.5V で動作
  • 放射線耐性:
    • LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
    • LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
    • 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP):
    • ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
    • 軍用温度範囲:-55℃~+125℃
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハ・ロットをトレース可能
    • 長い製品ライフ・サイクル
  • 12 個の単調性 12 ビット DAC
    • 出力電圧範囲:0V~5V
    • ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
  • 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
    • 高いサンプル・レート:500kSPS
    • 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
    • 範囲外アラームをプログラム可能
  • 8 ピン GPIO
  • 内部 2.5V リファレンス
  • 2 つのリモート温度センサ
  • 内部温度センサ
  • 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
    • 2.7V~5.5V で動作

AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。

このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V~5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。

本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。

AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。

このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V~5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。

本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。

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技術資料

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設計と開発

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評価ボード

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ユーザー ガイド: PDF | HTML
サポート対象の製品とハードウェア
在庫あり
制限:
??asset.out-of-stock-ti_ja_JP??
入手不可
評価基板 (EVM) 向けの GUI

AFE11612EVM-GUI — GUI for the AFE11612 evaluation module (EVM)

The AFE11612EVM-GUI is a windows-based software GUI that controls the AFE11612EVM through I2C and SPI.
サポート対象の製品とハードウェア
シミュレーション・ツール

AFE11612-SEP-SIM-TOOL — AFE11612-SEP 用 IBIS ファイル

IBIS file for the AFE11612-SEP
サポート対象の製品とハードウェア
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
HTQFP (PAP) 64 Ultra Librarian

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