AFE11612-SEP
- 放射線耐性:
- LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
- LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
- 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
- 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP):
- ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
- 軍用温度範囲:-55℃~+125℃
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
- ウェハ・ロットをトレース可能
- 長い製品ライフ・サイクル
- 12 個の単調性 12 ビット DAC
- 出力電圧範囲:0V~5V
- ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
- 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
- 高いサンプル・レート:500kSPS
- 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
- 範囲外アラームをプログラム可能
- 8 ピン GPIO
- 内部 2.5V リファレンス
- 2 つのリモート温度センサ
- 内部温度センサ
- 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
- 2.7V~5.5V で動作
AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。
このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V~5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。
本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | AFE11612-SEP マルチチャネルの ADC、DAC、および温度センサ搭載放射線耐性のあるアナログ・モニタおよびコントローラ データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 10月 2日 |
* | 放射線と信頼性レポート | AFE11612-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report (Rev. A) | 2023年 9月 1日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | AFE11612-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) | 2023年 1月 26日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | AFE11612-SEP Reliability and Production Flow Chart (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 12月 23日 | ||
アプリケーション・ノート | Laser Biasing and Optical Communication Applications With the AFE11612-SEP (Rev. A) | PDF | HTML | 2024年 7月 23日 | |||
EVM ユーザー ガイド (英語) | AFE11612 Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2024年 6月 3日 | |||
証明書 | AFE11612EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) | 2023年 2月 1日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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HTQFP (PAP) | 64 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
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