AFE11612-SEP

アクティブ

耐放射線特性、温度センサと DAC 向け 12 チャネル と ADC 向け 16 チャネルを搭載、12 ビット アナログ フロント エンド

製品詳細

Number of ADC channels 16 ADC resolution (bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
Number of ADC channels 16 ADC resolution (bps) 12 Number of DAC channels 12 DAC resolution (bps) 12 Temperature sensing Local, Remote Number of GPIOs 8 Interface type I2C, SPI Features GPIO Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Space ADC sampling rate (ksps) 500 ADC analog input range (min) (V) -5 ADC analog input range (max) (V) 5 DAC settling time (µs) 2 DAC output full-scale (min) (V) 0 DAC output full-scale (max) (V) 12.5
HTQFP (PAP) 64 144 mm² 12 x 12
  • 放射線耐性:
    • LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
    • LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
    • 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP):
    • ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
    • 軍用温度範囲:-55℃~+125℃
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハ・ロットをトレース可能
    • 長い製品ライフ・サイクル
  • 12 個の単調性 12 ビット DAC
    • 出力電圧範囲:0V~5V
    • ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
  • 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
    • 高いサンプル・レート:500kSPS
    • 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
    • 範囲外アラームをプログラム可能
  • 8 ピン GPIO
  • 内部 2.5V リファレンス
  • 2 つのリモート温度センサ
  • 内部温度センサ
  • 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
    • 2.7V~5.5V で動作
  • 放射線耐性:
    • LET = 43MeV-cm 2/mg (125℃) まで、SEL (Single-event latch-up) 耐性
    • LET = 43MeV-cm 2/mg まで、SEFI (Single-Event Functional Interrupt) 特性を評価済み
    • 20krad (Si) まで、総吸収線量 (TID) RLAT/RHA 特性を評価済み
  • 宇宙用強化プラスチック (宇宙用 EP):
    • ASTM E595 アウトガス仕様に適合
    • VID (Vendor Item Drawing) V62/22614
    • 軍用温度範囲:-55℃~+125℃
    • 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
    • 金ボンド・ワイヤ、NiPdAu リード仕上げ
    • ウェハ・ロットをトレース可能
    • 長い製品ライフ・サイクル
  • 12 個の単調性 12 ビット DAC
    • 出力電圧範囲:0V~5V
    • ユーザー定義の DAC シャットダウン・レベル
  • 16 入力、12 ビット逐次比較型 (SAR) ADC
    • 高いサンプル・レート:500kSPS
    • 16 個のシングルエンド入力、 または 2 個の差動入力と 12 個のシングルエンド入力
    • 範囲外アラームをプログラム可能
  • 8 ピン GPIO
  • 内部 2.5V リファレンス
  • 2 つのリモート温度センサ
  • 内部温度センサ
  • 設定可能な SPI および I 2C インターフェイス
    • 2.7V~5.5V で動作

AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。

このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V~5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。

本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。

AFE11612-SEP は、高密度の汎用モニタおよび制御システム用に設計された、高集積のアナログ・モニタおよび制御デバイスです。このデバイスには、12 ビットの D/A コンバータ (DAC) が 12 個と、16 チャネル、12 ビットの A/Dコンバータ (ADC) が搭載されています。さらに、8 つの汎用入出力 (GPIO)、2 つのリモート温度センサ・チャネル、およびローカル温度センサ・チャネルも内蔵されています。

このデバイスには、DAC の出力電圧を 0V~5V の範囲に規定する 2.5V の内蔵基準電圧があり、また、外部基準電圧を使用した動作もサポートしています。このデバイスに対しては、SPI 互換と I 2C 互換、2 種類のインターフェイス経由での通信が可能です。

本デバイスの高集積は、部品点数の大幅な低減や、閉ループ・システム設計の簡素化に貢献します。これにより、放射線耐性やボード面積を重視する高密度アプリケーションにとって、優れた選択肢になっています。

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート AFE11612-SEP マルチチャネルの ADC、DAC、および温度センサ搭載放射線耐性のあるアナログ・モニタおよびコントローラ データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 10月 2日
* 放射線と信頼性レポート AFE11612-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report (Rev. A) 2023年 9月 1日
* 放射線と信頼性レポート AFE11612-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) 2023年 1月 26日
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証明書 AFE11612EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) 2023年 2月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

AFE11612EVM — AFE11612-SEP 温度センサ搭載、12 ビット・アナログ・フロント・エンド (AFE) の評価基板

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ユーザー ガイド: PDF | HTML
評価基板 (EVM) 向けの GUI

AFE11612EVM-GUI GUI for the AFE11612 evaluation module (EVM)

The AFE11612EVM-GUI is a windows-based software GUI that controls the AFE11612EVM through I2C and SPI.
サポート対象の製品とハードウェア

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製品
統合型高精度 ADC と DAC
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ハードウェア開発
評価ボード
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シミュレーション・ツール

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
HTQFP (PAP) 64 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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