SN54SC1G08-SEP
- VID V62/26601
- 放射線 — トータル ドーズ効果 (TID)：
- 50krad(Si) まで吸収線量 (TID) 特性を評価済み
- 30krad(Si) まで吸収線量 (TID) 性能保証
- すべてのウェハー ロットについて、30krad(Si) までの放射線ロット受け入れテスト (RLAT)
- 放射線 — シングル イベント効果 (SEE)：
- 単一イベント ラッチアップ (SEL) 耐性：125℃で 50MeV-cm2/mg まで
- シングル イベント過渡 (SET) 特性：LET = 50MeV-cm2/mg
-
幅広い動作範囲：1.2V ～ 5.5V
- 5.5V 耐圧入力ピン
- 標準ピン配置をサポート
- 5V または 3.3V の VCC で最大 150Mbps
- JESD 78 準拠で 100mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙用強化プラスチック
- 防衛および航空宇宙アプリケーションのサポート
- 管理されたベースライン
- 金 (Au) ワイヤ ボンドと NiPdAu リード仕上げ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
- 単一の製造、アセンブリ、テスト施設
- 長期にわたる製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
SN54SC1G08-SEP デバイスはシングル 2 入力正論理 AND ゲートです。デバイスは、ブール関数 Y = A • B つまり、Y = Ā + B̅ を正論理で実行します。
技術資料
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4 をすべて表示 | 上位の文書 | タイプ | タイトル | フォーマットオプション | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G08-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report | 2026年 4月 30日 | |||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G125-SEP Total Ionizing Dose (TID) | 2026年 4月 30日 | |||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G08-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2026年 4月 1日 | ||
| * | 放射線と信頼性レポート | SN54SC1G08-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report | PDF | HTML | 2025年 4月 30日 |
設計と開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
5-8-LOGIC-EVM — 5 ～ 8 ピンの DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージをサポートする汎用ロジックの評価基板 (EVM)
5 ～ 8 ピンで DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージを使用する多様なデバイスをサポートできる設計のフレキシブルな評価基板です。
ユーザー ガイド: PDF
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブ拠点
- アセンブリ拠点