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SN54SC4T08-SEP

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耐放射線特性、ロジック レベル シフタ搭載、4 チャネル、2 入力正論理 AND ゲート

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SN54SC4T08-SEP

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製品詳細

Technology family SCxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family SCxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.2 Vout (max) (V) 5.5 Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/23620 が利用可能
  • 吸収線量 (TID) 耐性 = 30krad (Si)
    • すべてのウェハー・ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)
  • シングル・イベント効果 (SEE) 特性：
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 43MeV-cm2/mg
    • シングル・イベント過渡 (SET) 特性：43MeV-cm2/mg
  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V
  • 5/3.3/2.5/1.8/1.2V V CC の 単電源変換ゲート
    • TTL 互換入力：
      • 昇圧変換：
        • 1.8V – 1.2V からの入力
        • 2.5V – 1.8V からの入力
        • 3.3V – 1.8V、2.5V からの入力
        • 5.0V – 2.5V、3.3V からの入力
      • 降圧変換：
        • 1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、 5.0V からの入力
        • 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V からの入力
        • 2.5V – 3.3V、5.0V からの入力
        • 3.3V – 5.0V からの入力
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 5V で最大 25mA の出力駆動能力
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲：-55℃～125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品変更通知期間 (PCN) の延長
    • 製品のトレーサビリティ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/23620 が利用可能
  • 吸収線量 (TID) 耐性 = 30krad (Si)
    • すべてのウェハー・ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)
  • シングル・イベント効果 (SEE) 特性：
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 43MeV-cm2/mg
    • シングル・イベント過渡 (SET) 特性：43MeV-cm2/mg
  • 幅広い動作範囲：1.2V～5.5V
  • 5/3.3/2.5/1.8/1.2V V CC の 単電源変換ゲート
    • TTL 互換入力：
      • 昇圧変換：
        • 1.8V – 1.2V からの入力
        • 2.5V – 1.8V からの入力
        • 3.3V – 1.8V、2.5V からの入力
        • 5.0V – 2.5V、3.3V からの入力
      • 降圧変換：
        • 1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、 5.0V からの入力
        • 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V からの入力
        • 2.5V – 3.3V、5.0V からの入力
        • 3.3V – 5.0V からの入力
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 5V で最大 25mA の出力駆動能力
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲：-55℃～125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品変更通知期間 (PCN) の延長
    • 製品のトレーサビリティ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合

SN54SC4T08-SEP には、4 つの独立した 2 入力 AND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A × B を正論理で実行します。出力レベルは電源電圧 (V CC) を基準としており、1.2V、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。

入力は、低電圧 CMOS 入力の昇圧変換 (例：1.2V 入力から 1.8V 出力、1.8V 入力から 3.3V 出力) をサポートするため、低スレッショルド回路を使って設計されています。また、5V 耐圧の入力ピンにより、降圧変換 (例：3.3V から 2.5V 出力) が可能です。

SN54SC4T08-SEP には、4 つの独立した 2 入力 AND ゲートが内蔵されています。各ゲートはブール関数 Y = A × B を正論理で実行します。出力レベルは電源電圧 (V CC) を基準としており、1.2V、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。

入力は、低電圧 CMOS 入力の昇圧変換 (例：1.2V 入力から 1.8V 出力、1.8V 入力から 3.3V 出力) をサポートするため、低スレッショルド回路を使って設計されています。また、5V 耐圧の入力ピンにより、降圧変換 (例：3.3V から 2.5V 出力) が可能です。
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54SC4T08-SEP 耐放射線特性、1.2V～5.5V、クワッド 2 入力正論理 AND ゲート、変換機能内蔵 データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 8月 28日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC4T08-SEP Single Event Latch-Up Report PDF | HTML 2023年 10月 30日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC4T08-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023年 8月 23日
* 放射線と信頼性レポート SN54SC4T08-SEP Total Ionizing Dose Report PDF | HTML 2023年 8月 3日

設計と開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
シミュレーション・モデル

SN54SC4T08-SEP IBIS Model

SBAM502.ZIP (57 KB) - IBIS Model
ダウンロード
パッケージ ピン数 ダウンロード
TSSOP (PW) 14 オプションの表示
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 材質成分
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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