인터페이스 기타 인터페이스

SCAN926260

활성

1~10 버스 LVDS 디시리얼라이저 6개(IEEE 1149.1 및 at-speed BIST 포함)

제품 상세 정보

Protocols Catalog Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Protocols Catalog Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
NFBGA (NZH) 196 225 mm² 15 x 15
  • Deserializes One to Six Bus LVDS Input Serial Data Streams with Embedded Clocks
  • IEEE 1149.1 (JTAG) Compliant and At-Speed BIST Test Modes
  • Parallel Clock Rate 16-66MHz
  • On Chip Filtering for PLL
  • High Impedance Inputs Upon Power Off (Vcc = 0V)
  • Single Power Supply at +3.3V
  • 196-Pin NFBGA Package (Low-Profile Ball Grid Array) Package
  • Industrial Temperature Range Operation: −40°C to +85°C
  • ROUTn[0:9] and RCLKn Default High when Channel is Not Locked
  • Powerdown Per Channel to Conserve Power on Unused Channels

All trademarks are the property of their respective owners.

  • Deserializes One to Six Bus LVDS Input Serial Data Streams with Embedded Clocks
  • IEEE 1149.1 (JTAG) Compliant and At-Speed BIST Test Modes
  • Parallel Clock Rate 16-66MHz
  • On Chip Filtering for PLL
  • High Impedance Inputs Upon Power Off (Vcc = 0V)
  • Single Power Supply at +3.3V
  • 196-Pin NFBGA Package (Low-Profile Ball Grid Array) Package
  • Industrial Temperature Range Operation: −40°C to +85°C
  • ROUTn[0:9] and RCLKn Default High when Channel is Not Locked
  • Powerdown Per Channel to Conserve Power on Unused Channels

All trademarks are the property of their respective owners.

The SCAN926260 integrates six 10-bit deserializer devices into a single chip. The SCAN926260 can simultaneously deserialize up to six data streams that have been serialized by TI’s 10-bit Bus LVDS serializers. In addition, the SCAN926260 is compliant with IEEE standard 1149.1 and also features an At-Speed Built-In Self Test (BIST). For more details, please see the sections titled IEEE 1149.1 Test Modes and BIST Alone Test Modes.

Each deserializer block in the SCAN926260 has it’s own powerdown pin (PWRDWN[n])and operates independently with its own clock recovery circuitry and lock-detect signaling. In addition, a master powerdown pin (MS_PWRDWN) which puts all the entire device into sleep mode is provided.

The SCAN926260 uses a single +3.3V power supply and consumes 1.2W at 3.3V with a PRBS-15 pattern on all channels at 660Mbps.

The SCAN926260 integrates six 10-bit deserializer devices into a single chip. The SCAN926260 can simultaneously deserialize up to six data streams that have been serialized by TI’s 10-bit Bus LVDS serializers. In addition, the SCAN926260 is compliant with IEEE standard 1149.1 and also features an At-Speed Built-In Self Test (BIST). For more details, please see the sections titled IEEE 1149.1 Test Modes and BIST Alone Test Modes.

Each deserializer block in the SCAN926260 has it’s own powerdown pin (PWRDWN[n])and operates independently with its own clock recovery circuitry and lock-detect signaling. In addition, a master powerdown pin (MS_PWRDWN) which puts all the entire device into sleep mode is provided.

The SCAN926260 uses a single +3.3V power supply and consumes 1.2W at 3.3V with a PRBS-15 pattern on all channels at 660Mbps.

다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 동영상

기술 자료

star =TI에서 선정한 이 제품의 인기 문서
검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하십시오.
1개 모두 보기
유형 직함 날짜
* Data sheet SCAN926260 Six 1-10 Bus LVDS Deserializers w/IEEE 1149.1 & At-Speed BIST datasheet (Rev. H) 2013/04/17

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
패키지 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
NFBGA (NZH) 196 Ultra Librarian

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

동영상