この製品には新バージョンがあります。
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
TPIC6596
- 低い RDS(ON):1.3Ω (標準値)
- アバランシェエネルギー:75mJ
- 8つのパワーDMOSトランジスタ出力、250mA連続電流
- 出力あたり 1.5A のパルス電流
- 45V の出力クランプ電圧
- 複数のステージの拡張されたカスケード処理シングル入力で全レジスタをクリア
- 低消費電力
TPIC6596 デバイスは、比較的大きな負荷電力を必要とするシステムで使用するように設計されたモノリシック、高電圧、大電流出力の 8 ビット シフト レジスタです。本デバイスは、誘導性過渡保護のために電圧クランプを出力に組み込んでいます。パワー ドライバ アプリケーションには、リレー、ソレノイド、その他の中電流または高電圧負荷が含まれます。
このデバイスには、8 ビットのシリアル イン、パラレル アウトのシフト レジスタが内蔵されており、8 ビットの D タイプ ストレージ レジスタへデータを供給します。シフト レジスタとストレージ レジスタのどちらを経由するデータ転送も、シフト レジスタ クロック(SRCK)とレジスタ クロック(RCK)の立ち上がりエッジで行われます。ストレージ レジスタは、シフト レジスタ クリア (SRCLR) が HIGH のとき、出力バッファへデータを転送します。書き込みデータと読み取りデータは、RCK が LOW のときのみ有効です。SRCLRがLOWの場合、デバイスのすべてのレジスタがクリアされます。出力イネーブル (G) が HIGH に保持されると、出力バッファのすべてのデータが LOW に保持され、すべてのドレイン出力がオフになります。G を LOW に保持すると、ストレージ レジスタのデータが出力バッファへ透過的になります。シリアル出力(SER OUT)は、カスケード接続されたアプリケーションに追加のホールドタイムを提供するために、SRCKの立ち下がりエッジでデバイスからクロックアウトされます。これにより、クロック信号にスキューが発生する可能性がある場合、デバイスが互いに近接していない場合、またはシステムが電磁妨害を許容しなければならない場合のアプリケーションのパフォーマンスが向上します。
出力は、45V の出力定格と 250mA の連続シンク電流能力を持つローサイド オープン ドレイン DMOS トランジスタです。出力バッファのデータが LOW のとき、DMOS トランジスタの出力がオフになります。データが HIGH のとき、DMOS トランジスタ出力はシンク電流能力を持つようになります。
電源ピンとロジックレベルのグランドピンを分離しているため、システムの最大の柔軟性が得られます。寄生インダクタンスを最小限に抑えるため、ピン 1、10、11、20 は内部的に接続されており、各ピンは電源システムのグランドに外部で接続する必要があります。ピン 19、ロジックグランド (LGND) とピン 1、10、11、20、パワーグランド (PGND) の間のシングルポイント接続では、ロジック回路と負荷回路の間のクロストークを低減するように外部で作成する必要があります。TPIC6596 デバイスは、動作ケース温度範囲 -40℃~125℃ 全体での動作が規定されています。
技術資料
| 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPIC6596 パワー ロジック 8 ビット シフト レジスタ データシート (Rev. B 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2025年 4月 24日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション ツール向け PSpice®
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI を使用すると、内蔵のライブラリを使用して、複雑なミックスド (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| PDIP (N) | 20 | Ultra Librarian |
| SOIC (DW) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点