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UCC21756-Q1

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自動車、±10A 絶縁型シングルチャネルゲートドライバ、アクティブ保護および絶縁型センシング機能付き

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UCC21756-Q1

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製品詳細

Number of channels 1 Isolation rating Reinforced Power switch IGBT, SiCFET Withstand isolation voltage (VISO) (Vrms) 5700 Transient isolation voltage (VIOTM) (VPK) 8000 Peak output current (A) 10 Peak output current (source) (typ) (A) 10 Peak output current (sink) (typ) (A) 10 Features Active miller clamp, Desaturation (DESAT) protection, Disable, Enable, Fault reporting, High CMTI, Integrated analog to PWM sensor, Soft turnoff, Split output Output VCC/VDD (min) (V) 13 Output VCC/VDD (max) (V) 33 Input supply voltage (min) (V) 3 Input supply voltage (max) (V) 5.5 Propagation delay time (µs) 0.09 Input threshold CMOS Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive Bootstrap supply voltage (max) (V) 2121 Fall time (ns) 27 Undervoltage lockout (typ) (V) 12 TI functional safety category Functional Safety Quality-Managed
Number of channels 1 Isolation rating Reinforced Power switch IGBT, SiCFET Withstand isolation voltage (VISO) (Vrms) 5700 Transient isolation voltage (VIOTM) (VPK) 8000 Peak output current (A) 10 Peak output current (source) (typ) (A) 10 Peak output current (sink) (typ) (A) 10 Features Active miller clamp, Desaturation (DESAT) protection, Disable, Enable, Fault reporting, High CMTI, Integrated analog to PWM sensor, Soft turnoff, Split output Output VCC/VDD (min) (V) 13 Output VCC/VDD (max) (V) 33 Input supply voltage (min) (V) 3 Input supply voltage (max) (V) 5.5 Propagation delay time (µs) 0.09 Input threshold CMOS Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive Bootstrap supply voltage (max) (V) 2121 Fall time (ns) 27 Undervoltage lockout (typ) (V) 12 TI functional safety category Functional Safety Quality-Managed
SOIC (DW) 16 106.09 mm² (10.3 mm × 10.3 mm)
  • 5.7kVRMS single-channel isolated gate driver
  • AEC-Q100 Qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C ambient operating temperature range
  • Functional Safety Quality-Managed
  • SiC MOSFETs and IGBTs up to 2121Vpk
  • 33V maximum output drive voltage (VDD-VEE)
  • ±10A drive strength and split output
  • 150V/ns minimum CMTI
  • 200ns response time fast DESAT protection with 5V threshold
  • 4A internal active Miller clamp
  • 900mA soft turn-off when fault happens
  • Isolated analog sensor with PWM output for
    • Temperature sensing with NTC, PTC, or thermal diode
    • High voltage DC-link or phase voltage
  • Alarm FLT on overcurrent and reset from RST/EN
  • Fast enable/disable response on RST/EN
  • Reject <40ns noise transient and pulse on input pins
  • 12V VDD UVLO with power good on RDY
  • Inputs/outputs with over- or under-shoot transient voltage immunity up to 5V
  • 130ns (maximum) propagation delay and 30ns (maximum) pulse/part skew
  • SOIC-16 DW package with creepage and clearance distance > 8mm
  • Operating junction temperature –40°C to 150°C
  • 5.7kVRMS single-channel isolated gate driver
  • AEC-Q100 Qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C ambient operating temperature range
  • Functional Safety Quality-Managed
  • SiC MOSFETs and IGBTs up to 2121Vpk
  • 33V maximum output drive voltage (VDD-VEE)
  • ±10A drive strength and split output
  • 150V/ns minimum CMTI
  • 200ns response time fast DESAT protection with 5V threshold
  • 4A internal active Miller clamp
  • 900mA soft turn-off when fault happens
  • Isolated analog sensor with PWM output for
    • Temperature sensing with NTC, PTC, or thermal diode
    • High voltage DC-link or phase voltage
  • Alarm FLT on overcurrent and reset from RST/EN
  • Fast enable/disable response on RST/EN
  • Reject <40ns noise transient and pulse on input pins
  • 12V VDD UVLO with power good on RDY
  • Inputs/outputs with over- or under-shoot transient voltage immunity up to 5V
  • 130ns (maximum) propagation delay and 30ns (maximum) pulse/part skew
  • SOIC-16 DW package with creepage and clearance distance > 8mm
  • Operating junction temperature –40°C to 150°C

The UCC21756-Q1 is a galvanic isolated single channel gate driver designed for SiC MOSFETs and IGBTs up to 2121V DC operating voltage with advanced protection features, best-in-class dynamic performance, and robustness. UCC21756-Q1 has up to ±10A peak source and sink current.

The input side is isolated from the output side with SiO2 capacitive isolation technology, supporting up to 1.5kVRMS working voltage, 12.8kVPK surge immunity with longer than 40-years isolation barrier life, as well as providing low part-to-part skew, and >150V/ns common mode noise immunity (CMTI).

The UCC21756-Q1 includes the state-of-art protection features, such as fast overcurrent and short circuit detection, fault reporting, active Miller clamp, and input and output side power supply UVLO to optimize SiC and IGBT switching behavior and robustness. The isolated analog to PWM sensor can be utilized for easier temperature or voltage sensing, further increasing the drivers’ versatility and simplifying the system design effort, size, and cost.

The UCC21756-Q1 is a galvanic isolated single channel gate driver designed for SiC MOSFETs and IGBTs up to 2121V DC operating voltage with advanced protection features, best-in-class dynamic performance, and robustness. UCC21756-Q1 has up to ±10A peak source and sink current.

The input side is isolated from the output side with SiO2 capacitive isolation technology, supporting up to 1.5kVRMS working voltage, 12.8kVPK surge immunity with longer than 40-years isolation barrier life, as well as providing low part-to-part skew, and >150V/ns common mode noise immunity (CMTI).

The UCC21756-Q1 includes the state-of-art protection features, such as fast overcurrent and short circuit detection, fault reporting, active Miller clamp, and input and output side power supply UVLO to optimize SiC and IGBT switching behavior and robustness. The isolated analog to PWM sensor can be utilized for easier temperature or voltage sensing, further increasing the drivers’ versatility and simplifying the system design effort, size, and cost.
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* データシート UCC21756-Q1 Automotive 10A Source/Sink Reinforced Isolated Single Channel Gate Driver for SiC/IGBT with Active Protection, Isolated Analog Sensing and High-CMTI データシート (Rev. A) PDF | HTML 2024/06/17
証明書 VDE Certificate for Reinforced Isolation for DIN EN IEC 60747-17 (Rev. AB) 2026/07/15
アプリケーション概要 Does My Design Need a Miller Clamp? PDF | HTML 2024/12/11
アプリケーション・ノート Choosing Appropriate Protection Approach for IGBT and SiC Power Modules PDF | HTML 2024/07/19

設計と開発

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評価ボード

UCC21750QDWEVM-025 — SiC と IGBT トランジスタと電源モジュール向け駆動機能と保護機能の評価ボード

UCC21750QDWEVM-025 は、コンパクトなシングル チャネル絶縁型ゲート ドライバ ボードであり、150 x 62 x 17mm と 106 x 62 x 30mm の各パッケージに封止済みで、SiC MOSFET と Si IGBT の各パワー モジュールに必要なドライブ、バイアス電圧、脱飽和機能をベースとする保護機能と診断機能を搭載しています。この TI 評価基板 (EVM) のベースは、沿面距離と空間距離が 8.0mm の SOIC-16DW パッケージに封止した 5.7kVrms 強化絶縁ドライバ UCC21750 です。この評価基板は、SN6505B (...)
サポート対象の製品とハードウェア
在庫あり
制限：
??asset.out-of-stock-ti_ja_JP??
入手不可
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (DW) 16 Ultra Librarian
TI の評価基板に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

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サポートとトレーニング

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