홈 전력 관리 전원 보호 스위치 및 컨트롤러 eFuse(통합 핫 스왑)
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전원 보호 스위치 및 컨트롤러
eFuse(통합 핫 스왑)

TPS7H2140-SEP

활성

Radiation-tolerant, 4.5V to 32V, input 1.35A 160-mΩ quad-channel eFuse

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데이터 시트

TPS7H2140-SEP

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제품 상세 정보

Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
Vin (max) (V) 32 Vin (min) (V) 4.5 Current limit (max) (A) 7 Current limit (min) (A) 0.25 Features Current monitoring, Thermal shutdown, Under voltage lock out Overcurrent response Circuit breaker, Current limiting Fault response Auto-retry Ron (typ) (mΩ) 160 Rating Space Soft start Fixed Quiescent current (Iq) (typ) (A) 0.0062 Quiescent current (Iq) (max) (A) 0.0062 Device type eFuses and hot swap controllers Operating temperature range (°C) -55 to 125
HTSSOP (PWP) 28 62.08 mm² (9.7 mm × 6.4 mm)
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range
  • Vendor item drawing available, VID V62/23610
  • Total ionizing dose (TID) characterized to 30 krad(Si)
    • RLAT (radiation lot acceptance testing) to 20 krad(Si)
  • Single-event effects (SEE) characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
    • Single-event transient (SET) and single-event functional interrupt (SEFI) characterized to effective linear energy transfer (LET) of 43 MeV-cm 2/mg
  • Quad-channel 160-mΩ eFuse with full diagnostics and current-sense analog output
  • Wide operating voltage 4.5 V to 32 V
  • Ultra-low standby current < 500 nA
  • High-accuracy current sense: ±15% when I LOAD ≥ 25 mA
  • Adjustable current limit with external resistor (R CL), with accuracy of ±15% when I LOAD ≥ 500 mA
  • Protection
    • Short-to-GND protection by current limit (internal or external)
    • Thermal shutdown with latch off option and thermal swing
    • Inductive load negative voltage clamp with optimized slew rate
    • Loss-of-GND and loss-of-power protection
  • Diagnostics
    • Overcurrent and short-to-ground detection
    • Open-load and short-to-power detection
    • Global fault report for fast interrupt
  • 28-pin thermally-enhanced PWP package
  • Space Enhanced Plastic (SEP)
  • Available in military (–55°C to 125°C) temp range

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.

The TPS7H2140-SEP device is a fully protected quad-channel eFuse with four integrated 160-mΩ NMOS power FETs.

Full diagnostics and high-accuracy current sense enables intelligent control of the loads.

An external adjustable current limit improves the reliability of whole system by limiting the inrush or overload current.
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기술 자료

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* 데이터 시트 TPS7H2140-SEP Radiation-Tolerant 32-V, 160-mΩ Quad-Channel eFuse datasheet (Rev. A) PDF | HTML 2023. 8. 11
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H2140-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) PDF | HTML 2023. 11. 6
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H2140-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report PDF | HTML 2023. 10. 10
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H2140-SEP Single Event Effects Report PDF | HTML 2023. 10. 9
* 방사능 및 안정성 보고서 TPS7H2140-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2023. 10. 4
* VID TPS7H2140-SEP VID V62-23610 2024. 5. 1
선택 가이드 TI Space Products (Rev. L) 2026. 3. 27
백서 Designing Space Systems With Integrated FDIR: A Guide to TI's Space-Grade Components PDF | HTML 2025. 7. 12
기술 문서 우주 항공 강화 제품이 저지구 궤도 애플리케이션의 과제를 해결하는 방법 (Rev. A) PDF | HTML Download English Version (Rev.A) 2024. 1. 11
인증서 TPS7H2140EVM EU Declaration of Conformity (DoC) PDF | HTML 2023. 7. 24
애플리케이션 노트 Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) PDF | HTML 2022. 9. 15
기술 문서 Simplifying radiation-hardened power-supply design with eFuses PDF | HTML 2020. 7. 14
애플리케이션 노트 Failure Containment in Spacecraft Point-of-Load Power Supplies PDF | HTML 2020. 4. 30
e북 Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019. 5. 21
기술 문서 When failure isn’t an option: power up your next satellite with integrated functio PDF | HTML 2019. 4. 30

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

TPS7H2140EVM — 방사능 내성 플라스틱 쿼드 채널 eFuse용 TPS7H2140-SEP 평가 모듈

TPS7H2140-SEP 평가 모듈은 쿼드 채널 eFuse의 작동을 보여줍니다. 보드는 병렬 출력 채널 테스트를 위해 구성되며, 출력 채널을 분할하거나 장치의 다른 기능을 사용자 지정할 수 있습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
지원되는 제품 및 하드웨어
재고 있음
제한:
??asset.out-of-stock-ti_ko_KR??
이용할 수 없음
시뮬레이션 모델

TPS7H2140-SEP PSpice Transient Model

SLVME15.ZIP (38 KB) - PSpice 모델
지원되는 제품 및 하드웨어
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
HTSSOP (PWP) 28 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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